[发明专利]微粒分析设备和微粒分析方法

说明书

技术领域

本公开涉及微粒分析设备和微粒分析方法。具体地，涉及能够提高从微粒产生的前向散射光的检测精度的技术。

背景技术

在现有技术中，已经使用了一种微粒分析设备，该设备向在微芯片中形成的流动池或通路中流动的微粒辐射光且检测从该微粒产生的散射光和从该微粒或标记在该微粒上的荧光物质产生的荧光。这种微粒分析设备通过检测从该微粒产生的散射光和荧光等来测量作为分析对象的微粒的光性能。此外，已经使用了这样一种设备（可以被称为“流式细胞仪”或“细胞分类器”），所述设备采用了分类和仅恢复具有给定特征的微粒的分离系统配置。

在微粒分析设备技术领域中，为了提高从作为分析对象的微粒产生的荧光和散射光的检测精度和分析精度，已经提出了各种不同的配置。例如，JP2012-26837A提出了一种微粒测量设备，所述微粒测量设备在将从微粒产生的光引导至光检测器的光路上具有包括荧光的发射区和散射光的发射区的光学滤波器，以更有效地获得背向散射光和荧光。此外，JP2012-47464A描述了一种微粒测量设备，该设备包括光聚焦单元，所述光聚焦单元在被划分为多个区域的光接收元件中聚焦没有散射光的直射光和由微粒散射的散射光，以使得能够执行高精度的测量。该JP2012-47464A提出了使用具有辐射光的阻挡区域和散射光的发射区域的光学滤波器，作为在微粒测量设备中的光聚焦单元。

发明内容

如上所述，尽管在微粒测量设备（微粒分析设备）领域中已经提出了提高分析精度的各种不同的方法，但期望进一步提高关于前向散射光的检测的分析精度。

因此，在本公开中，主要的目的在于提供一种微粒分析设备，该设备能够提高关于从作为分析对象的微粒产生的前向散射光的检测的分析精度。

本发明的发明人以重复的方式积极地进行研究，以提高关于前向散射光的检测的提高分析精度（检测精度）。在其研究过程中，首先，本发明的发明人确定了由于在微粒分析设备的结构上的机械振动而不幸地引起了低频噪声。由于机械振动而导致的低频噪声是包括在发射光中而不是在从光源发出的光中由微粒发射，且该光进入检测前向散射光的光检测单元中。更具体地，在进入检测前向散射光的光检测单元的低频噪声中，作为分析对象的微粒的直径小，这导致了当前向散射光的信号输出电平较低时，SN比劣化。而且，本发明的发明人发现，当作为分析对象的微粒的直径小且前向散射光的信号输出电平低时，前向散射光的频率高。随后，他们提出一个想法，即，可以通过在那时去除低频噪声来防止SN比的劣化，且可以预见本技术。

根据本技术的一个实施方式，提供了一种微粒分析设备，包括：光检测单元，被配置为检测从作为分析对象的微粒产生的前向散射光。所述光检测单元包括具有去除包含在进入所述光检测单元的光中的低频噪声的高通滤波器电路，并根据所述的前向散射光的预定频率切换至高通滤波器。通过这种配置，即使由于在设备的结构上的机械振动而导致的低频噪声进入光检测单元，也可以在高通滤波器中去除该低频噪声。随后，通过根据前向散射光的预定频率切换至高通滤波器，当这里存在通过低频噪声使得由光检测单元检测的SN比劣化的可能性的时候，光检测单元可以去除该低频噪声。在此，在本公开中，“去除低频噪声”不仅包括完全去除低频噪声还包括去除部分低频噪声以及减少该低频噪声。

优选的是，当所述预定频率等于或高于200kHz时，所述光检测单元切换至高通滤波器。

优选的是，所述高通滤波器去除包括在泄露光中的低频噪声，所述泄露光避开设置在所述微粒和光检测单元之间的零阶光去除单元，并进入所述光检测单元。

进一步，优选的是，所述高通滤波器去除频率低于2kHz的噪声。

优选的是，所述电路包括从输入侧至输出侧的直接连接的通路和具有高通滤波器的通路。所述直接连接的通路和具有高通滤波器的通路并联连接。所述电路包括开关元件，用来执行切换至所述直接连接的通路和具有高通滤波器的通路中的一个。

进一步，优选的是，所述电路包括一个放大器，被配置为放大前向散射光的检测信号。

另外，根据本技术的一个实施方式，提供了一种微粒分析方法，包括根据从作为分析对象的微粒产生的前向散射光的预定频率在具有高通滤波器的电路中去除包含在进入光检测单元的光中的低频噪声，以分析所述微粒。