[发明专利]微粒分析设备和微粒分析方法

权利要求书

1.一种微粒分析设备，包括：

光检测单元，被配置为检测从作为分析对象的微粒产生的前向散射光，

其中，所述光检测单元包括具有去除包含在进入所述光检测单元的光中的低频噪声的高通滤波器的电路，并根据所述前向散射光的预定频率切换至所述高通滤波器。

2.根据权利要求1所述的微粒分析设备，其中，当所述预定频率等于或高于200kHz时，所述光检测单元切换至所述高通滤波器。

3.根据权利要求2所述的微粒分析设备，其中，所述高通滤波器去除包含在泄露光中的低频噪声，所述泄露光避开设置在所述微粒和所述光检测单元之间的零阶光去除单元，并进入所述光检测单元。

4.根据权利要求3所述的微粒分析设备，其中，所述高通滤波器去除频率低于2kHz的噪声。

5.根据权利要求4所述的微粒分析设备，

其中，所述电路包括从输入侧至输出侧直接连接的通路和具有所述高通滤波器的通路，以及

其中，所述直接连接的通路和所述具有所述高通滤波器的通路并联连接。

6.根据权利要求5所述的微粒分析设备，其中，所述电路包括开关元件，用来执行切换至所述直接连接的通路和所述具有所述高通滤波器的通路中的一个。

7.根据权利要求6所述的微粒分析设备，其中，所述电路包括放大器，被配置为放大所述前向散射光的检测信号。

8.根据权利要求1所述的微粒分析设备，所述微粒分析设备进一步包括用于所述微粒的光学性能确定的数据分析单元；收集样本液体的储存单元；控制所述数据分析单元和所述储存单元的控制单元。

9.一种微粒分析方法，包括：

根据从作为分析对象的微粒产生的前向散射光的预定频率在具有高通滤波器的电路中去除包含在进入光检测单元的光中的低频噪声，以分析所述微粒。