[发明专利]一种测量等离子体室放出的电子量的方法无效
| 申请号: | 201310415359.0 | 申请日: | 2013-09-12 |
| 公开(公告)号: | CN104465285A | 公开(公告)日: | 2015-03-25 |
| 发明(设计)人: | 丁振理 | 申请(专利权)人: | 北京中科信电子装备有限公司 |
| 主分类号: | H01J37/244 | 分类号: | H01J37/244 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 101111 北京市通*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 测量 等离子体 放出 电子 方法 | ||
1.一种测量等离子体室放出的电子量的方法,其图1工作流程框图包括:PFG电子发生器(1)、PFG EMISSION CURRENT电子测量装置(2)、PSI控制器(3)、灯丝电压(4)、弧压(5)。PFG EMISSION CURRENT原理图图2说明了测量装置原理。其中包括采样电阻、放大器AD8221、同相放大器、电压跟随器电路组成。此方法检测PFG电子发生器溢出的电子情况。
2.如权利要求1所述一种测量等离子体室放出的电子量的方法,其特征在于,其中所述的采样电阻的大小,控制输出的值的取值量程公式U=I*R*K;R=U/I*K(此电路的放大倍数K=50,采样电流为I=10mA,对应的AIN5为U=10V)。为了使电路采样信号稳定放大,整个电路中用放大器AD8221和同相放大器,从而达到电路满足电气需要,通过电压跟随器,从而达到滤去电路内部干扰波的目的。
3.如权利要求1所述的一种测量等离子体室放出的电子量的方法,其特征在于,其中所述的PFG EMISSION CURRENT电子测量装置(2)采样量输入给PSI控制器(3),进而输出数字量给上位机,上位机通过设定的算法计算出显示值,从而达到检测电子量的目的。进而达到提高产品质量的目的。
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