[发明专利]测试治具在审
| 申请号： | 201310411298.0 | 申请日： | 2013-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN104422876A | 公开（公告）日： | 2015-03-18 |
| 发明（设计）人： | 孙永祥;黄文宏;黄小燕 | 申请（专利权）人： | 毅嘉科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 陈小雯 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试 | ||
【权利要求书】：
1.一种测试治具，用以测试一电子元件的多个电性接点，该测试治具包含：
底座，具有多个测试接点；以及
转接板，该转接板的第一侧具有多个第一转接点，该转接板的第二侧具有多个第二转接点，该第一侧与该第二侧相对，该多个第一转接点与该多个第二转接点电连接，当该转接板设置于该底座上且该第二侧面向该底座时，该多个第二转接点与该多个测试接点电连接；
其中，当该电子元件设置于该转接板的该第一侧上时，该多个第一转接点与该多个电性接点电连接。
2.如权利要求1所述的测试治具，其中该底座另具有多个定位柱，多个第一定位孔形成于该转接板上，当该转接板设置于该底座上时，该多个定位柱穿过该多个第一定位孔。
3.如权利要求2所述的测试治具，其中多个第二定位孔形成于该电子元件上，当该电路板设置于该转接板的该第一侧上时，该多个定位柱穿过该多个第二定位孔。
4.如权利要求1所述的测试治具，其中该电子元件为一电路板。
5.如权利要求1所述的测试治具，其中该多个测试接点为探针。
6.如权利要求1所述的测试治具，其中该底座为一电测机台。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于毅嘉科技股份有限公司，未经毅嘉科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310411298.0/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
