[发明专利]LED外延片、其制作方法及包括其的LED芯片有效

专利信息
申请号: 201310388491.7 申请日: 2013-08-30
公开(公告)号: CN103441195A 公开(公告)日: 2013-12-11
发明(设计)人: 张宇 申请(专利权)人: 湘能华磊光电股份有限公司
主分类号: H01L33/04 分类号: H01L33/04;H01L33/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 吴贵明;张永明
地址: 423038 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: led 外延 制作方法 包括 芯片
【权利要求书】:

1.一种LED外延片,包括由衬底(201)表面向外依次设置的GaN缓冲层(202)、第一U型GaN层(203)、第一N型GaN层(204)、量子阱层(205)以及第一P型GaN层(206),其特征在于,还包括设置在所述第一P型GaN层(206)上的隧道结层(207)。

2.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,所述隧道结层(207)包括:

第二P型GaN层(2071),设置在所述第一P型GaN层(206)上,优选地,在所述第二P型GaN层(2071)中Mg的掺杂浓度为1E+20~2E+20atom/cm3

绝缘层,设置在所述第二P型GaN层(2071)上;以及

第二N型GaN层(2075),设置在所述绝缘层上,优选地,在所述第二N型GaN层(2075)中Si的掺杂浓度为1E+19~1.2E+19atom/cm3

3.根据权利要求2所述的外延片,其特征在于,所述绝缘层包括:

第二U型GaN层(2072),设置在所述第二P型GaN层(2071)上;

掺杂In的GaN层(2073),设置在所述第二U型GaN层(2072)上,优选地,所述掺杂In的GaN层(2073)掺杂In后形成的化学式为InxGa(1-x)N,其中x为0.1~0.15;

第三U型GaN层(2074),设置在所述掺杂In的GaN层(2073)上。

4.根据权利要求3所述的外延片,其特征在于,在所述隧道结层中,

所述第二P型GaN层(2071)的厚度为20~30纳米;

所述第二U型GaN层(2072)的厚度为2~3纳米;

所述掺杂In的GaN层(2073)的厚度为8~10纳米;

所述第三U型GaN层(2074)的厚度为2~3纳米;以及

所述第二N型GaN层(2075)的厚度为30~40纳米。

5.一种LED芯片,包括衬底(201)、设置在所述衬底上的外延片,以及设置在所述外延片上的P电极(208)和N电极(209),其特征在于,所述外延片为权利要求1至4中任一项所述的外延片,所述P电极(208)设置在该外延片中隧道结层(207)上,所述N电极(209)设置在该外延片中的第一N型GaN层(204)上。

6.一种LED外延片的制作方法,包括在衬底(501)表面向外依次形成GaN缓冲层(502)、第一U型GaN层(503)、第一N型GaN层(504)、量子阱层(505)和第一P型GaN层(506),其特征在于,所述制作方法还包括:在所述第一P型GaN层(506)上形成隧道结层(507)。

7.根据权利要求6所述的制作方法,其特征在于,所述在第一P型GaN层(506)上形成隧道结层(607)的步骤包括:

在所述第一P型GaN层(606)上形成第二P型GaN层(6071);

在所述第二P型GaN层(6071)上形成绝缘层;

在所述绝缘层上形成第二N型GaN层(6075)。

8.根据权利要求7所述的制作方法,其特征在于,所述在第二P型GaN层(6071)上形成绝缘层包括:

在所述第二P型GaN层(6071)上形成第二U型GaN层(6072);

在所述第二U型GaN层(6072)上形成掺杂In的GaN层(6073);

在所述掺杂In的Ga(N层(6073)上形成第三U型GaN层(6074)。

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