[发明专利]LED外延片、其制作方法及包括其的LED芯片有效
| 申请号: | 201310388491.7 | 申请日: | 2013-08-30 | 
| 公开(公告)号: | CN103441195A | 公开(公告)日: | 2013-12-11 | 
| 发明(设计)人: | 张宇 | 申请(专利权)人: | 湘能华磊光电股份有限公司 | 
| 主分类号: | H01L33/04 | 分类号: | H01L33/04;H01L33/00 | 
| 代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 吴贵明;张永明 | 
| 地址: | 423038 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | led 外延 制作方法 包括 芯片 | ||
1.一种LED外延片,包括由衬底(201)表面向外依次设置的GaN缓冲层(202)、第一U型GaN层(203)、第一N型GaN层(204)、量子阱层(205)以及第一P型GaN层(206),其特征在于,还包括设置在所述第一P型GaN层(206)上的隧道结层(207)。
2.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,所述隧道结层(207)包括:
第二P型GaN层(2071),设置在所述第一P型GaN层(206)上,优选地,在所述第二P型GaN层(2071)中Mg的掺杂浓度为1E+20~2E+20atom/cm3;
绝缘层,设置在所述第二P型GaN层(2071)上;以及
第二N型GaN层(2075),设置在所述绝缘层上,优选地,在所述第二N型GaN层(2075)中Si的掺杂浓度为1E+19~1.2E+19atom/cm3。
3.根据权利要求2所述的外延片,其特征在于,所述绝缘层包括:
第二U型GaN层(2072),设置在所述第二P型GaN层(2071)上;
掺杂In的GaN层(2073),设置在所述第二U型GaN层(2072)上,优选地,所述掺杂In的GaN层(2073)掺杂In后形成的化学式为InxGa(1-x)N,其中x为0.1~0.15;
第三U型GaN层(2074),设置在所述掺杂In的GaN层(2073)上。
4.根据权利要求3所述的外延片,其特征在于,在所述隧道结层中,
所述第二P型GaN层(2071)的厚度为20~30纳米;
所述第二U型GaN层(2072)的厚度为2~3纳米;
所述掺杂In的GaN层(2073)的厚度为8~10纳米;
所述第三U型GaN层(2074)的厚度为2~3纳米;以及
所述第二N型GaN层(2075)的厚度为30~40纳米。
5.一种LED芯片,包括衬底(201)、设置在所述衬底上的外延片,以及设置在所述外延片上的P电极(208)和N电极(209),其特征在于,所述外延片为权利要求1至4中任一项所述的外延片,所述P电极(208)设置在该外延片中隧道结层(207)上,所述N电极(209)设置在该外延片中的第一N型GaN层(204)上。
6.一种LED外延片的制作方法,包括在衬底(501)表面向外依次形成GaN缓冲层(502)、第一U型GaN层(503)、第一N型GaN层(504)、量子阱层(505)和第一P型GaN层(506),其特征在于,所述制作方法还包括:在所述第一P型GaN层(506)上形成隧道结层(507)。
7.根据权利要求6所述的制作方法,其特征在于,所述在第一P型GaN层(506)上形成隧道结层(607)的步骤包括:
在所述第一P型GaN层(606)上形成第二P型GaN层(6071);
在所述第二P型GaN层(6071)上形成绝缘层;
在所述绝缘层上形成第二N型GaN层(6075)。
8.根据权利要求7所述的制作方法,其特征在于,所述在第二P型GaN层(6071)上形成绝缘层包括:
在所述第二P型GaN层(6071)上形成第二U型GaN层(6072);
在所述第二U型GaN层(6072)上形成掺杂In的GaN层(6073);
在所述掺杂In的Ga(N层(6073)上形成第三U型GaN层(6074)。
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