[发明专利]利用三次测量达成直接上变频发射机的快速本地振荡泄漏校正有效

专利信息
申请号: 201310386188.3 申请日: 2013-08-28
公开(公告)号: CN103856425B 公开(公告)日: 2017-03-01
发明(设计)人: 伟尔·欧奎克;丹尼斯·马欧尼 申请(专利权)人: 晨星半导体股份有限公司
主分类号: H04L25/06 分类号: H04L25/06
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司31100 代理人: 骆希聪
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 利用 三次 测量 达成 接上 变频 发射机 快速 本地 振荡 泄漏 校正
【权利要求书】:

1.一种通讯装置,包含:

一直接变频发射机,包含:

一输入端口,供接收一输入信号;

一输出端口,供输出具有一传输频率的一输出信号;

一混频级,供将该输入信号的一代表上变频为具有一本地振荡器的一本地振荡频率;以及

一直流偏移电路,供施加多个直流偏移信号于该输入信号;

一存储器,供储存多个直流偏移信号;以及

一处理器,被设定以:

借由于该输入端口的一校正信号以及于该输出端口进行的至多三次差动频谱测量,决定一组最佳直流偏移信号,当将该组最佳直流偏移信号施加于该输入端口所接收的该输入信号时,该组最佳直流偏移信号能最小化该输出信号的一本地振荡泄漏,该本地振荡泄漏为该输出信号于该输出端口的一成分;

将该组最佳直流偏移信号储存至该存储器;以及

将该存储器中储存的该组最佳直流偏移信号施加于该输入信号。

2.如权利要求1所述的通讯装置,其特征在于,该处理器被进一步设定以:

选择该多个直流偏移信号的一第一校正组合及一第二校正组合,该第一校正组合及该第二校正组合各自包含一同相偏移值与一正交偏移值;

根据该第一校正组合执行一第一差动频谱测量;

根据该第二校正组合执行一第二差动频谱测量;

根据该第一差动频谱测量及该第二差动频谱测量,为该组最佳直流偏移信号决定一同相偏移值或一正交偏移值,且为该组最佳直流偏移信号决定另一同相偏移值或一正交偏移值的一绝对值;

选择该多个直流偏移信号的一第三校正组合,该第三校正组合包含该组最佳直流偏移信号中根据该第一差动频谱测量及该第二差动频谱测量所决定的该同相偏移值或该正交偏移值;

根据该第三校正组合执行一第三差动频谱测量;以及

根据该第三差动频谱测量,为该另一偏移值的该绝对值决定一正负符号,以产生该组最佳直流偏移信号中的完整的一组最佳同相偏移值及最佳正交偏移值。

3.如权利要求2所述的通讯装置,其特征在于,该第一、第二、第三差动频谱测量各自为一原点偏移抑制测量,该原点偏移抑制测量是测量该输出端口于该传输频率上的频谱能量以及于该本地振荡频率上的频谱能量的一频谱能量差异,该频谱能量差异是以分贝为单位。

4.如权利要求3所述的通讯装置,进一步包含:

一侦测器,耦接至该发射机的该输出端口,用以将一电磁波信号转换为一电压信号;以及

一模拟-数字转换器,用以将该电压信号转换为一数字序列;

其中该处理器被进一步用以:

侦测该数字序列的一频谱波封;以及

根据侦测所得的该频谱波封执行该第一、第二、第三原点偏移抑制测量。

5.如权利要求4所述的通讯装置,其特征在于,该处理器被进一步用以:

将该多个直流偏移信号的该第一校正组合中的同相偏移值与正交偏移值皆设定为零;

根据该第一校正组合执行该第一原点偏移抑制测量,以决定一偏移向量的一最佳向量大小,该偏移向量具有一最佳同相偏移值和一最佳正交偏移值,作为偏移向量的成分向量;

将该最佳向量大小的负值设定为该第二校正组合中的同相偏移值或正交偏移值,并将该第二校正组合中的另一同相偏移值或另一正交偏移值设定为零;

根据该第二校正组合执行该第二原点偏移抑制测量,以决定该最佳同相偏移值或该最佳正交偏移值,并决定另一同相偏移值或另一正交偏移值的最佳偏移值的绝对值;

将该最佳同相偏移值或该最佳正交偏移值设定为该第三校正组合中相对应的同相偏移值或正交偏移值,并将该另一最佳偏移值的绝对值设定为该第三校正组合中相对应的该另一同相偏移值或另一正交偏移值;

根据该第三校正组合执行该第三原点偏移抑制测量,以决定该另一最佳同相偏移值和该另一最佳正交偏移值的该正负符号,以产生完整的该组最佳同相偏移值和最佳正交偏移值;以及

将该组最佳同相偏移值和最佳正交偏移值储存至该存储器。

6.如权利要求5所述的通讯装置,其特征在于,该多个直流偏移信号的该第一、第二、第三校正组合储存于该存储器中;该处理器被进一步用以:

依一顺序自该存储器撷取该第一、第二、第三校正组合,该顺序是对应于该第一、第二、第三原点偏移抑制测量。

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