[发明专利]用于确定缺陷像素的设备和方法

说明书

本申请要求于2012年8月29日提交到日本专利局的第2012-0188468号日本专利申请和于2013年5月27日提交到韩国知识产权局的第10-2013-0059927号韩国专利申请的优先权，其公开通过引用全部合并于此。

技术领域

与示例性实施例一致的设备和方法涉及确定缺陷像素。

背景技术

作为用于校正相机传感器的缺陷的技术，有静态类型缺陷校正技术和动态类型缺陷校正技术。在静态类型缺陷校正技术中，通过在发布产品时输入全黑图像或全白图像来检测缺陷像素，并将缺陷像素的位置存储在存储器中。在使用中，从存储器读取缺陷像素的位置，用通过使用与缺陷像素相邻的像素计算出的值来代替缺陷像素的像素值。

这样的静态类型缺陷校正技术存在以下问题。随着像素的数量增加，需要大容量的存储器来存储缺陷像素的位置。由于在发布产品时需要缺陷检测操作，因此成本增加。另外，它无法对由于温度变化或长时间消耗造成的缺陷作出响应。出于这个原因，对动态类型缺陷校正技术的需求正在增加。

作为动态类型缺陷校正技术，例如，存在下述专利文献中公开的技术。

（专利文献1）第H2009-290653号日本专利公开出版物

（专利文献2）第H2011-135566号日本专利公开出版物

（专利文献3）第H2008-067158号日本专利公开出版物

发明内容

然而，在专利文献1中公开的方法是现有技术缺陷校正方法。在这种方法中，仅计算与相应像素相邻的八个像素的像素值的平均值和所述相应像素的像素值之间的差值具有很大的不良影响，并且需要添加条件，诸如，所有相邻像素的像素值事实上变得远离相应像素的像素值。在这种情况下，与具有与缺陷像素接近的值的边缘相邻的缺陷像素无法被确定为缺陷，并且由于这个原因，缺陷像素可在未被校正的情况下保留。

在专利文献2中公开的方法是与在专利文献1中公开的方法不同的缺陷校正方法。在这种方法中，缺陷确定条件被限于在设置窗口中的相应像素的像素值是最大值的情况，并且与具有与缺陷像素接近的值的边缘相邻的缺陷像素无法被完全确定为缺陷，由于这个原因，缺陷像素也可在未被校正的情况下保留。

在专利文献3中公开的方法是与分别在专利文献1和专利文献2中公开的方法不同的缺陷校正方法。在这种方法中，当做出用于降低不良影响的设置时，与具有与缺陷像素接近的值的边缘相邻的缺陷像素无法被完全确定为缺陷，由于这个原因，缺陷像素也可在未被校正的情况下保留。

因此，本发明构思的一个或多个示例性实施例提供甚至当缺陷像素与具有与相应的缺陷像素的像素值接近的像素值的边缘相邻时，也可将相应的缺陷像素确定为缺陷像素的技术。

根据示例性实施例的一方面，提供一种用于确定缺陷的设备，包括：第一差计算单元，被配置为计算第一像素组的多个像素值中的第一最大值和第一最小值之间的第一差值，其中，所述第一像素组包括与中心像素邻近并且位于与中心像素相同的颜色层上的第一像素；第二差计算单元，被配置为计算第二像素组的多个像素值中的第二最大值和第二最小值之间的第二差值，其中，所述第二像素组包括与中心像素邻近并且位于与中心像素相同的颜色层上的第二像素；确定单元，被配置为基于第一最大值或第一最小值和中心像素的像素值之间的关系、第一差值和第二差值来确定中心像素是否是缺陷像素，其中，中心像素被布置在包括第一像素组和第二像素组的像素组的中心。

甚至当存在与具有与缺陷像素的像素值接近的像素值的边缘相邻的缺陷像素时，缺陷像素也可被确定为缺陷像素。具体地，甚至当沿着相对于中心像素的水平方向或垂直方向存在相邻边缘时，缺陷像素确定设备也可确定中心像素是否是缺陷像素。

当第一最大值或第一最小值和中心像素的像素值之间的关系满足第一条件，第一差值满足第二条件，并且第二差值满足第三条件时，确定单元可将中心像素确定为缺陷像素。当第一条件、第二条件和第三条件被满足时，确定单元可将中心像素确定为缺陷像素。

第一条件可以是当中心像素的像素值大于第一最大值时，从中心像素的像素值减去第一最大值的值大于第一阈值的条件。当中心像素的像素值大于第一最大值时，确定单元可根据从中心像素的像素值减去第一最大值的值大于第一阈值的条件被满足来确定第一条件是否被满足。