[发明专利]用于确定缺陷像素的设备和方法

权利要求书

1.一种用于确定缺陷像素的设备，所述设备包括：

第一差计算单元，被配置为计算第一像素组的多个像素值中的第一最大值和第一最小值之间的第一差值，其中，所述第一像素组包括与中心像素邻近并且处于与中心像素相同的颜色层上的第一像素；

第二差计算单元，被配置为计算第二像素组的多个像素值中的第二最大值和第二最小值之间的第二差值，其中，所述第二像素组包括与中心像素邻近并且处于与中心像素相同的颜色层上的第二像素；

确定单元，被配置为基于第一最大值或第一最小值和中心像素的像素值之间的关系、第一差值和第二差值来确定中心像素是否是缺陷像素，

其中，中心像素被布置在包括第一像素组和第二像素组的像素组的中心。

2.如权利要求1所述的设备，其中，确定单元还被配置为如果第一最大值或第一最小值和中心像素的像素值之间的关系满足第一条件，第一差值满足第二条件，并且第二差值满足第三条件，则将中心像素确定为缺陷像素。

3.如权利要求2所述的设备，其中，第一条件是如果中心像素的像素值大于第一最大值，则从中心像素的像素值减去第一最大值的值大于阈值的条件。

4.如权利要求2所述的设备，其中，第一条件是如果中心像素的像素值小于第一最小值，则从第一最小值减去中心像素的像素值的值大于阈值的条件。

5.如权利要求2所述的设备，其中，第二条件是第一差值小于阈值的条件。

6.如权利要求2所述的设备，其中，第三条件是第二差值小于阈值的条件。

7.如权利要求1所述的设备，其中，对通过相对于中心像素将第一像素组和第二像素组旋转预定角度而获得的多个模式执行中心像素是否是缺陷像素的确定。

8.一种用于确定缺陷像素的设备，其中，所述设备包括：

差计算单元，被配置为计算像素组的多个像素值中的最大值和最小值之间的差值，在所述像素组中，从邻近于所述像素组的中心像素并位于与中心像素相同的颜色层上的像素组中的四个角的各自像素去除了一个像素；

确定单元，被配置为基于最大值或最小值和中心像素的像素值之间的关系以及所述差值来确定中心像素是否是缺陷像素。

9.如权利要求8所述的设备，其中，确定单元还被配置为如果最大值或最小值和中心像素的像素值之间的关系满足第一条件，并且所述差值满足第二条件，则将中心像素确定为缺陷像素。

10.如权利要求9所述的设备，其中，第一条件是如果中心像素的像素值大于最大值，则从中心像素的像素值减去最大值的值大于阈值的条件。

11.如权利要求9所述的设备，其中，第一条件是如果中心像素的像素值小于最小值，则从所述最小值减去中心像素的像素值的值大于阈值的条件。

12.如权利要求9所述的设备，其中，第二条件是所述差值小于阈值的条件。

13.如权利要求9所述的设备，其中，对通过相对于中心像素将像素组旋转预定角度而获得的多个模式执行中心像素是否是缺陷像素的确定。

14.一种确定缺陷像素的设备，所述设备包括：

第一边缘周围缺陷确定器和第二边缘周围缺陷确定器中的至少一个，其中，

第一边缘周围缺陷确定器被配置为通过使用与布置在与图像的边缘接近的中心像素邻近的像素的像素值来确定像素组的中心像素是否是缺陷像素，其中，所述边缘包括中心像素的右、左、下、左下、右下、左上和右上像素中的至少一个；

第二边缘周围缺陷确定器被配置为通过使用布置在中心像素的左下、右下、左上和右上处中的至少一个的像素来确定中心像素是否是缺陷像素；

校正值计算器，被配置为针对与第一边缘周围缺陷确定器和第二边缘周围缺陷确定器中的至少一个的确定相应的中心像素，计算至少一个校正像素值。

15.如权利要求14所述的设备，还包括：选择器，被配置为根据第一边缘周围缺陷确定器和第二边缘周围缺陷确定器中的所述至少一个的确定来选择所述至少一个校正像素值中的一个。

16.如权利要求14所述的设备，还包括：动态缺陷确定器，被配置为不管图像的边缘的存在如何，通过使用与中心像素邻近的像素的像素值来确定中心像素是否是缺陷像素。