[发明专利]超薄膜场效应晶体管传感器及其应用有效

专利信息
申请号: 201310384397.4 申请日: 2013-08-29
公开(公告)号: CN103472116A 公开(公告)日: 2013-12-25
发明(设计)人: 孟青;张凤娇;臧亚萍;邹业;狄重安;胡文平;朱道本 申请(专利权)人: 中国科学院化学研究所
主分类号: G01N27/414 分类号: G01N27/414;H01L51/05;H01L51/30;H01L51/40
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 关畅
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 薄膜 场效应 晶体管 传感器 及其 应用
【权利要求书】:

1.一种有机场效应晶体管传感器,包括栅极层、绝缘层、有机传感层、源电极和漏电极;

所述晶体管的结构为如下结构a或b:

结构a:

所述绝缘层位于所述栅极层之上;

所述有机传感层位于所述绝缘层之上;

所述源电极和漏电极位于同一层,且均位于所述有机传感层之上;

结构b:

所述绝缘层位于所述栅极层之上;

所述源电极和漏电极位于所述绝缘层之上;

所述有机传感层覆盖所述源电极、漏电极及绝缘层上未被源电极和漏电极覆盖的区域;

构成所述有机传感层的材料为式I所示化合物;

式I

所述式I中,R1和R2相同或不同,均选自氢、取代或未取代的C1-C50的烷基、取代或未取代的C3-C50的环烷基、取代或未取代的C1-C50的烷氧基、取代或未取代的芳烷基中的至少一种;

其中,所述取代或未取代的芳烷基中,芳基部分的碳原子总数为6-50,烷基部分的碳原子总数为1-50;

Ar1和Ar2相同或不同,均选自取代或未取代的C6-C50的芳基、取代或未取代的C5-C50的杂芳基和取代或未取代的C5-C50的杂环基中的任意一种;

其中,所述杂芳基和杂环基中,杂原子选自IVA、VA和VIA族的元素中的至少一种,具体选自Si、N、O、S和Se中的至少一种;

所述R1、R2、Ar1和Ar2中,所述取代的C1-C50的烷基、取代的C3-C50的环烷基、取代的C1-C50的烷氧基、取代的芳烷基、取代的C6-C50的芳基、取代的C5-C50的杂芳基和取代的C5-C50的杂环基中,取代基均选自C1-C50的烷基、C3-C6的环烷基、C1-C50的链烯基、C2-C50的炔基、C6-C50的芳基、氨基、C1-C50的烷氧基、C6-C50的芳氧基、C5-C50的杂芳氧基、酰基、C2-C50的烷氧基羰基、C7-C50的芳氧基羰基、C2-C50的酰氧基、酰胺基、C2-C50的烷氧基羰基氨基、C7-C50的芳氧基羰基氨基基团、磺酰基氨基、氨磺酰基、氨基甲酰基、C1-C50的烷硫基、C6-C50的芳硫基、C5-C50的杂芳基硫基、磺酰基、亚磺酰基、脲基、磷酸酰胺基、羟基、巯基、卤素原子、氰基、磺基、亚磺基、羧基、硝基、异羟肟酸基团、肼基、亚氨基和甲硅烷基中的至少一种。

2.根据权利要求1所述的晶体管传感器,其特征在于:所述式I为如下化合物中的任意一种:

3.根据权利要求1或2所述的晶体管传感器,其特征在于:

构成所述栅极、源极和漏极的材料均选自硅、金属单质、金属氧化物、合金和导电复合材料中的任意一种,具体为硅、金、银、铜、铝、镍、钛或氧化铟锡;

构成所述绝缘层的材料为无机氧化物、无机氮化物、电绝缘聚合物或硅烷类有机小分子,具体为SiO2、Al2O3、TiO2、PS、PMMA、PVA、PVC、PTFE或十八烷基三氯硅烷。

4.根据权利要求1-3任一所述的晶体管传感器,其特征在于:所述栅极、源极和漏极的厚度均为5~300nm;

所述绝缘层的厚度为2~1000nm;

所述有机传感层的厚度为1-30nm。

5.一种制备权利要求1-4任一所述有机场效应晶体管传感器的方法,包括如下步骤:

1)在栅极层上制备绝缘层;

2)在所述绝缘层上制备有机传感层;

3)在所述有机传感层上制备源电极和漏电极,得到所述有机场效应晶体管传感器;

或者,

4)在所述步骤1)所得绝缘层上制备源电极和漏电极后制备有机传感层,使有机传感层覆盖源电极、漏电极及所述绝缘层上未被所述源电极和漏电极覆盖的区域,得到所述有机场效应晶体管传感器。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于:构成所述栅极层、绝缘层、有机传感层、源电极和漏电极的材料与权利要求3相同;

所述栅极层、绝缘层、有机传感层、源电极和漏电极的厚度与权利要求4相同。

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