[发明专利]用于检测综合验光仪的光学系统、光学检测装置和方法

说明书

技术领域

本发明涉及验光仪检测技术领域，更具体地，涉及一种用于检测综合验光仪的光学系统、光学检测装置和方法。

背景技术

综合验光仪是一种可实现机械化的更换镜片从而实现屈光检查的功能的综合性屈光检查的仪器。综合验光仪的主要计量性能指标有：球镜顶焦度，柱镜顶焦度，棱镜度，柱镜轴位等。

综合验光仪在生产、组装、使用的过程中，其性能指标有可能发生变化，这样就会导致验光不准，从而影响验光师的判断。现有技术中还没有用于检测综合验光仪的性能指标的光学检测装置，因而无法对综合验光仪的性能指标、验光准确性进行量化判断。

相关术语解释：

后顶焦度：以米为单位测得的镜片近轴后顶焦距的倒数。单位是米的倒数。镜片后顶点到近轴后焦点的距离称为近轴后顶焦距，如图1所示。一个镜片含有前、后两个顶焦度。根据眼科约定，镜片的顶焦度均指后顶焦度。

球镜度：具有两个球面的镜片的后顶焦度；或者是散光度镜片的两个主子午面中，选择作为参考主子午面的顶焦度。一般用符号“S”表示。

发明内容

本发明旨在提供一种用于检测综合验光仪的光学系统、光学检测装置和方法，以解决现有技术中无法对待检测设备的性能指标进行量化判断的问题。

为解决上述技术问题，根据本发明的一个方面，提供了一种用于检测综合验光仪的光学系统，包括：分光元件；第一物镜；第一反光元件，第一反光元件设置在分光元件和第一物镜之间，且分光元件和第一物镜均位于第一反光元件的反射光路中；分划板，分划板上具有基准图案，分划板位于分光元件的反射光路中，且分划板设置于第一物镜的物方焦点上；调焦元件，第一物镜设置在调焦元件和第一反光元件之间；第二物镜，第二物镜设置在调焦元件和第一物镜之间，调焦元件与第二物镜之间的距离可调节；成像元件，成像元件位于分光元件的出射光路中。

进一步地，光学系统还包括第二反光元件，第二反光元件设置在调焦元件与第二物镜之间，且调焦元件与第二物镜位于第二反光元件的反射光路中。

进一步地，第二物镜是聚焦物镜。

进一步地，成像元件是电荷耦合元件。

进一步地，光学系统还包括光阑，光阑设置在第一物镜和第二物镜之间。

根据本发明的另一个方面，提供了一种用于检测综合验光仪的光学检测装置，包括：基座；光学系统，光学系统是上述的用于检测综合验光仪的光学系统，光学系统设置在基座上；发光元件，发光元件设置在基座上，且发光元件朝向光学系统的分划板设置；测量单元，用于检测光学系统的调焦元件的移动距离。

进一步地，光学检测装置还包括：平行光管，平行光管垂直设置在基座上，平行光管具有透光孔，光学系统的分光元件设置在平行光管内，分划板、透光孔和分光元件同轴设置，光学系统的第一反光元件和第一物镜设置在平行光管的上端，成像元件设置在平行光管的下端；导向管，导向管的第一端与基座连接，光学系统的第二物镜设置在导向管的第二端，第一物镜与第二物镜对向且同轴设置，光学系统的调焦元件滑动设置在导向管内。

进一步地，光学检测装置还包括导杆，导杆的至少一部分设置在导向管内，且导杆的第一端与调焦元件连接。

根据本发明的另一个方面，提供了一种光学检测方法，包括：步骤S10：将待检测设备放置在上述的光学系统中，并位于光学系统的第一物镜与第二物镜之间；步骤S20：调节调焦元件的位置，以改变调焦元件与第二物镜之间的距离，直至分划板上的基准图案清晰的显示在成像元件上为止；步骤S30：根据调焦元件的移动距离计算待检测设备的性能参数。

进一步地，步骤S30中的性能参数为顶焦度，根据下述公式（1）确定待检测设备的顶焦度为：

φ=-zf′2+xz---(1)]]>