[发明专利]一种信号测试电路及灯具

说明书

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种信号测试电路及灯具。

背景技术

随着电子技术的飞速发展，信号测试在自动控制、数字仪表及电流检测方面得到了广泛的应用，传统的信号测试电路在对被测信号进行测试的过程中所使用的量程通常是固定的，无法根据测试精度灵活地进行量程的选择，从而使得测试出来的结果的准确度和精度较差。

发明内容

本发明实施例所要解决的技术问题在于，提供一种信号测试电路及灯具，能够简单、便捷地针对测试精度灵活选择量程进行测试，提升信号测试的准确度和精度。。

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种信号测试电路，包括测试模块、量程选择模块和输出模块；所述测试模块分别与所述量程选择模块和所述输出模块连接，所述量程选择模块与所述输出模块连接；所述测试模块包括至少一种量程，所述量程选择模块根据测试精度从所述至少一种量程中选择一种量程，由所述测试模块根据所述量程选择模块所选择的量程对被测信号进行测试，并由所述输出模块输出测试后的信号。

其中，所述测试模块包括运算放大器AR1、电阻R6、电阻R7、电阻R8和电阻R9；所述运算放大器AR1的反相输入端与所述电阻R8一端连接，所述电阻R8另一端与所述电阻R9一端连接，所述电阻R9另一端与所述电阻R7一端连接，所述电阻R7另一端与所述电阻R6一端连接，所述电阻R6另一端分别与所述量程选择模块和输出模块连接，其中，所述电阻R8组成第一量程，所述电阻R8和所述电阻R9串联组成第二量程，所述电阻R7、所述电阻R8和所述电阻R9串联组成第三量程，所述电阻R6、所述电阻R7、所述电阻R8和所述电阻R9串联组成第四量程。

其中，所述量程选择模块包括三极管Q1、MOS管Q2、MOS管Q3、三极管Q4～Q8；所述三极管Q6的集电极分别与所述运算放大器AR1的输出端和所述三极管Q5的基极连接，所述三极管Q7的集电极分别与所述运算放大器AR1的输出端和三极管Q1的基极连接，所述三极管Q8的集电极分别与所述运算放大器AR1的输出端和所述MOS管Q2的栅极连接，所述三极管Q4的集电极分别与所述运算放大器AR1的输出端和MOS管Q3的栅极连接，所述三极管Q5的发射极分别与所述电阻R6和输出模块连接，所述三极管Q1的发射极连接于所述电阻R6和所述电阻R7之间，所述MOS管Q2的源极连接于所述电阻R7和所述电阻R9之间，所述MOS管Q3的源极连接于所述电阻R8和所述电阻R9之间。

其中，所述量程选择模块还包括电阻R1～R4；所述电阻R1串联于所述运算放大器AR1输出端与所述MOS管Q3的栅极之间，所述电阻R2串联于所述运算放大器AR1输出端与所述MOS管Q2的栅极之间，所述电阻R3串联于所述运算放大器AR1输出端与所述三极管Q1的基极之间，所述电阻R4串联于所述运算放大器AR1输出端与所述三极管Q5的基极之间。

其中，所述三极管Q5的集电极、所述三极管Q1的集电极、所述MOS管Q2的漏极和所述MOS管Q3的漏极均连接电源。

其中，所述三极管Q4的发射极和所述三极管Q6～Q8的发射极均接地。

其中，所述三极管Q1和三极管Q4～Q8均为NPN型三极管。

其中，所述MOS管Q2和MOS管Q3均为N沟道耗尽型MOS管。

其中，所述输出模块包括运算放大器AR2；所述运算放大器AR2的同相输入端连接于所述三极管Q5的发射极和所述电阻R6之间，所述运算放大器AR2的反相输入端与所述运算放大器AR2的输出端连接。

相应的，本发明实施例还提供了一种灯具，包括上述的信号测试电路。

实施本发明实施例，具有如下有益效果：

本发明的信号测试电路由测试模块、量程选择模块和输出模块构成，结构简单，其中，测试模块可包括至少一个可供选择的量程，在信号测试过程中可由量程选择模块根据测试精度选择量程以对被测信号进行测试，从而使得本发明的测试电路能够便捷地、灵活地针对测试精度进行量程选择以实现信号测试，从而提升了信号测试的准确度和精度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的一种信号测试电路的框图。

图2是本发明实施例提供的一种信号测试电路的电路原理图。