[发明专利]一种信号测试电路及灯具

权利要求书

1.一种信号测试电路，其特征在于，包括测试模块、量程选择模块和输出模块；

所述测试模块分别与所述量程选择模块和所述输出模块连接，所述量程选择模块与所述输出模块连接；

所述测试模块包括至少一种量程，所述量程选择模块根据测试精度从所述至少一种量程中选择一种量程，由所述测试模块根据所述量程选择模块所选择的量程对被测信号进行测试，并由所述输出模块输出测试后的信号。

2.如权利要求1所述的信号测试电路，其特征在于，所述测试模块包括运算放大器AR1、电阻R6、电阻R7、电阻R8和电阻R9；

所述运算放大器AR1的反相输入端与所述电阻R8一端连接，所述电阻R8另一端与所述电阻R9一端连接，所述电阻R9另一端与所述电阻R7一端连接，所述电阻R7另一端与所述电阻R6一端连接，所述电阻R6另一端分别与所述量程选择模块和所述输出模块连接；其中，所述电阻R8组成第一量程，所述电阻R8和所述电阻R9串联组成第二量程，所述电阻R7、所述电阻R8和所述电阻R9串联组成第三量程，所述电阻R6、所述电阻R7、所述电阻R8和所述电阻R9串联组成第四量程。

3.如权利要求2所述的信号测试电路，其特征在于，所述量程选择模块包括三极管Q1、MOS管Q2、MOS管Q3和三极管Q4～Q8；

所述三极管Q6的集电极分别与所述运算放大器AR1的输出端和所述三极管Q5的基极连接，所述三极管Q7的集电极分别与所述运算放大器AR1的输出端和三极管Q1的基极连接，所述三极管Q8的集电极分别与所述运算放大器AR1的输出端和所述MOS管Q2的栅极连接，所述三极管Q4的集电极分别与所述运算放大器AR1的输出端和MOS管Q3的栅极连接，所述三极管Q5的发射极分别与所述电阻R6和输出模块连接，所述三极管Q1的发射极连接于所述电阻R6和所述电阻R7之间，所述MOS管Q2的源极连接于所述电阻R7和所述电阻R9之间，所述MOS管Q3的源极连接于所述电阻R8和所述电阻R9之间。

4.如权利要求3所述的信号测试电路，其特征在于，所述量程选择模块还包括电阻R1～R4；

所述电阻R1串联于所述运算放大器AR1输出端与所述MOS管Q3的栅极之间，所述电阻R2串联于所述运算放大器AR1输出端与所述MOS管Q2的栅极之间，所述电阻R3串联于所述运算放大器AR1输出端与所述三极管Q1的基极之间，所述电阻R4串联于所述运算放大器AR1输出端与所述三极管Q5的基极之间。

5.如权利要求4所述的信号测试电路，其特征在于，所述三极管Q5的集电极、所述三极管Q1的集电极、所述MOS管Q2的漏极和所述MOS管Q3的漏极均连接电源。

6.如权利要求5所述的信号测试电路，其特征在于，所述三极管Q4的发射极和所述三极管Q6～Q8的发射极均接地。

7.如权利要求6所述的信号测试电路，其特征在于，所述三极管Q1和三极管Q4～Q8均为NPN型三极管。

8.如权利要求7所述的信号测试电路，其特征在于，所述MOS管Q2和MOS管Q3均为N沟道耗尽型MOS管。

9.如权利要求8所述的信号测试电路，其特征在于，所述输出模块包括运算放大器AR2；

所述运算放大器AR2的同相输入端连接于所述三极管Q5的发射极和所述电阻R6之间，所述运算放大器AR2的反相输入端与所述运算放大器AR2的输出端连接。

10.一种灯具，其特征在于，包括1至9任一项所述的信号测试电路。