[发明专利]一种测量分析系统在审
| 申请号： | 201310349924.8 | 申请日： | 2013-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN104374419A | 公开（公告）日： | 2015-02-25 |
| 发明（设计）人： | 葛晓春 | 申请（专利权）人： | 苏州广海信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G01D21/00 | 分类号： | G01D21/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215123 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测量 分析 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种测量分析系统，其特征在于：测量分析系统数据是通过测量获得的，测量是赋值给具体事物以表示他们之间关于特殊特性的关系。
2.根据权利要求1所述的一种测量分析系统，其特征在于：所述的确定该测量系统是否具有所需要的统计特性，此项必须在使用前进行。
3.根据权利要求1所述的一种测量分析系统，其特征在于：所述的发现哪种环境因素对测量系统有显着的影响，例如温度、湿度等，以决定其使用之空间及环境。
4.根据权利要求1所述的一种测量分析系统，其特征在于：所述的目的是在验证一个测量系统一旦被认为是可行的，应持续具有恰当的统计特性。
5.根据权利要求1所述的一种测量分析系统，其特征在于：所述的常见的就是“量具”是其中的一种型式。
6.根据权利要求1所述的一种测量分析系统，其特征在于：所述的在计划中明确所要进行分析的量具以及评价人、开始日期和预计完成日期等。
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