[发明专利]光照射装置及光测定装置有效
| 申请号: | 201310349305.9 | 申请日: | 2010-01-26 |
| 公开(公告)号: | CN103398947A | 公开(公告)日: | 2013-11-20 |
| 发明(设计)人: | 片冈卓治;伊藤平良 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
| 主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 杨琦 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 照射 装置 测定 | ||
本申请是申请日为2010年1月26日、申请号为201080013971.X、发明名称为光照射装置及光测定装置的专利申请的分案申请。
技术领域
本发明涉及一种用于向微量盘照射测定光的光照射装置,及具备该光照射装置及微量盘、可对来自测定对象物的荧光等进行测定的光测定装置。
背景技术
以往,作为向二维排列于微量盘主面上的多个井分别照射测定光(激发光)的技术,例如已知有在专利文献1~3记载的技术。在专利文献1记载的技术中,从微量盘的背面,相对于井的深度方向平行地向对应的井照射测定光。在设置于微量盘的各井中注入有培养液、荧光指示剂、及评估化合物等的溶液以及细胞等测定对象物。
专利文献
专利文献1:日本特开2007-108146号公报
专利文献2:日本特开平10-197449号公报
专利文献3:日本特开平10-281994号公报
发明内容
发明所要解决的问题
发明者们对上述的以往技术进行详细研究后,结果发现如下的问题。
即,存在有下述问题:在专利文献1记载的测定光的照射方法中,相对于井的深度方向平行地向对应的井照射测定光。因此,不仅向测定对象物而且向溶液也照射有多量的测定光。此时,来自各井内的溶液的背景光噪声会变得较大。
本发明为解决上述的问题而完成,其目的在于提供一种光照射装置,其具备用于有效降低来自设置于微量盘的多个井的背景光噪声的构造;及包含该光照射装置与微量盘的光测定装置。
解决问题的技术手段
本发明的光照射装置,从微量盘的背面侧向该微量盘照射测定光,上述微量盘具有二维配置有用于容纳测定对象物的多个井的主面,及与该主面相对的背面。该光照射装置具备光源,及导光部件。光源输出从微量盘的背面侧向多个井分别照射的测定光。导光部件是使从光源所输出的测定光在其内部传播的部件,且具有用于将该测定光向微量盘的各个井照射的构造。具体而言,导光部件具有与微量盘背面直接面对的主面、与该主面相对的背面、及与这些主面及背面交叉的侧面。侧面作为入射来自光源的测定光的光入射面而发挥功能。此外,本发明的光测定装置,具备具有上述构造的光照射装置,及以使其背面直接面对该光照射装置的导光部件主面的方式配置的微量盘。
尤其在导光部件的主面上,分别对应于所述微量盘的多个井设置有多个光出射部。这些光出射部控制测定光的出射方向,以避免在该导光部件内传播的测定光从垂直于所述微量盘的背面方向入射。即,各光出射部发如下功能,诱发从该各光出射部向微量盘所对应的井照射的测定光产生散射。换言之,在各光出射部的表面使测定光折射及反射,并使该折射光成分及反射光成分向微量盘的背面侧照射至对应的井。通过该结构,可大幅降低从微量盘背面入射的测定光中,相对于背面垂直入射的测定光成分。因此,可有效降低因对应于测定光照射而产生的来自各井的背景光噪声。
例如,在导光部件的主面上设置的多个光出射部,分别包含在主面上具有开口,并从该导光部件的主面向背面延伸的1个或1个以上的凹部。此时,导光部件可以使微量盘的背面(各井的底面)与各凹部的开口相对的方式进行配置。此外,从侧面入射至导光部件内的测定光,在各凹部的侧面折射及反射,从各凹部的开口出射。
在由作为光照射部的光照射装置与微量盘所构成的光测定装置中,所述光照射装置具备在其主面上形成有凹部的导光部件,若从导光部件的侧面向该导光部件内入射测定光,则该测定光在各凹部的侧面折射及反射,从各凹部的开口入射至对应的井的底面。
如上所述,根据凹部作为光出射部适用的光照射装置及光测定装置,测定光在各凹部的侧面折射及反射,而从各凹部的开口出射。即,到达对应的各井的测定光的行进方向相对于井的深度方向倾斜。因此,照射至容纳于微量盘各井内的培养液、荧光指示剂、及评估化合物等溶液的测定光变得较少。因此,可有效地降低因向各井内的溶液照射测定光所产生的来自微量盘各井的背景光噪声。
再者,优选作为光出射部而设置于导光部件主面上的多个凹部分别为圆柱形状的低洼部。此时,因各凹部的侧面不存在角部,故易于在各凹部内部引起无规则的光的散射。因此,可降低对于微量盘各井的测定光的照射不均。
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