[发明专利]一种单光束双工位大量程激光粒度测量装置

说明书

技术领域

本发明涉及激光粒度测量装置，尤其涉及一种单光束激光粒度测量装置。 

背景技术

目前激光粒度测量装置扩大量程有两种途经，1、加长光路长度以获得更小角度的散射光；此技术以马尔文为代表。此技术路线的缺点是光路长仪器体积庞大运输使用均不方便，另外光路上增加很多附加探测器，增加了仪器校准的工作量。2、将光束中心附近的高频频谱再次放大，使用第二谱面探测器。此技术以德国辛帕泰克为代表。因为有两个谱面，光路复杂,使用多个探测器也为仪器测试增加了误差出现的几率。

本发明提供了一种全新的光路结构，使得激光粒度测试装置测试范围增大数倍，而光路长度缩短了1/2——1/3。只用一只激光器一只光电探测器即可实现量程的扩展。本发明具有结构简单，量程大，体积小，测量精度更高，使用更加方便实用的突出优点。

发明内容

本发明的目的是提供一种新型光路结构，可以方便地将测量范围从0.1微米扩大到毫米级颗粒粒度。同时不增加光路长度，不提高设备的复杂程度。

为了解决以上问题本发明所采用以下技术方案：

一种单光束双工位大量程激光粒度测量装置，包括一用于发射激光的激光器1，激光器1的后端按照激光光路的前进方向依次设置有扩束镜2、傅里叶透镜4、用于改变激光光路方向的光学组件、光电探测器阵列10，一样品窗6，所述傅里叶透镜4和光学组件之间设有第一工位12，所述光学组件和光电探测器阵列10之间设有第二工位9，所述样品窗6在所述第一工位12和第二工位9之间相对移动。

作为本发明的进一步改进，如上所述的激光粒度测量装置，所述样品窗6、第一工位12和第二工位9均与激光光路主轴正交。

作为本发明的进一步改进，如上所述的激光粒度测量装置，第一工位12和第二工位9在同一直线上。

作为本发明的进一步改进，如上所述的激光粒度测量装置，设有与激光光路主轴正交的导轨5，样品窗6沿导轨5移动。

作为本发明的进一步改进，如上所述的激光粒度测量装置，所述光学组件由反射镜7和反射镜8构成，反射镜7和反射镜8的反光面相对垂直设置；或者，所述光学组件由直角棱镜13和直角棱镜14，直角棱镜13和直角棱镜14的反光斜面相对垂直设置。

作为本发明的进一步改进，如上所述的激光粒度测量装置，在光电探测器阵列10之后，沿激光光路前进方向还设置有保证光束两次测试都处于严格对中状态的对中系统11。

作为本发明的进一步改进，如上所述的激光粒度测量装置，在扩束镜2和傅里叶透镜4之间还设置有空间滤波器3。

作为本发明的进一步改进，如上所述的激光粒度测量装置，所述反射镜7和反射镜8，或者，直角棱镜13和直角棱镜14，可在激光主轴方向上移动。

作为本发明的进一步改进，如上所述的激光粒度测量装置，所述样品窗6为中空石英流动池。

本发明具有以下有益效果：1、采用折叠会聚光路，光路长度大大缩短，样品窗的移动距离很小，减小了仪器体积；2、测试范围变化很大，扩大了仪器测量范围，因此测得的散射谱可以轻易覆盖0.1微米至数千微米的范围；3、可移动样品窗，激光器、探测器与样品窗重复使用，仪器结构实现了最简化，大大降低了仪器成本，提高了仪器可靠性；4、在整个量程上全面地提高了颗粒粒度的测试精度；5、本发明的操作非常简单方便，测试一次小于十分钟。

附图说明

图1是本发明优选实施方式一的结构示意图。

图2是本发明优选实施方式二的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图，对本发明的具体实施做出详细的说明。