[发明专利]粉砂岩颗粒全组分粒度分析新方法

权利要求书

1.一种粉砂岩颗粒全组分粒度分析新方法，其特征在于，包括如下步骤：

（A）对粉砂岩样进行分析，判断粉砂岩样的种类；

（B）从分类后的所述粉砂岩样中取原始样品；

（C）用所述原始样品制备分析样品，向所述分析样品中加入清水，并搅拌均匀，形成浑浊液；

（D）用滴管将所述浑浊液加入激光粒度仪的样品槽的分散剂中，并对样品槽的分散剂中的所述浑浊液超声分散一定时间，得到超声分散液，对所述超声分散液进行粒度分析。

2.根据权利要求1所述的一种粉砂岩颗粒全组分粒度分析新方法，其特征在于，在所述步骤（D）中，所述一定时间为10分钟。

3.根据权利要求2所述的一种粉砂岩颗粒全组分粒度分析新方法，其特征在于，所述步骤（A）具体包括如下步骤：

（A1）向粉砂岩样表面滴加第一质量浓度的稀盐酸，观察是否有气泡产生，将粉砂岩样分成有气泡类粉砂岩样和无气泡类粉砂岩样；

（A2）对所述无气泡类粉砂岩样进行颜色分析，将所述无气泡类粉砂岩样分成无色类和有色类；

（A3）对所述粉砂岩样进行分类，所述无色类为第一类粉砂岩样，所述有色类和所述有气泡类粉砂岩样为第二类粉砂岩样。

4.根据权利要求3所述的一种粉砂岩颗粒全组分粒度分析新方法，其特征在于，在所述步骤（A1）中，所述第一质量浓度为5%～10%。

5.根据权利要求4所述的一种粉砂岩颗粒全组分粒度分析新方法，其特征在于，当所述粉砂岩样为所述第一类粉砂岩样时，所述步骤（C）具体包括如下步骤：

（C11）将所述原始样品在金属研钵中敲碎，并研磨至粒径小于或等于第一预定值，得到第一研磨样本；

（C12）将所述第一研磨样本转移至玛瑙研钵中，研磨第一预定时间，至颗粒完全分散，得到所述分析样本；

（C13）将所述分析样本转移至烧杯中，用清水清洗玛瑙研钵，清洗后的液体倒入烧杯中，搅拌均匀，形成所述浑浊液。

6.根据权利要求5所述的一种粉砂岩颗粒全组分粒度分析新方法，其特征在于，在所述步骤（C11）中，所述第一预定值为1毫米；

和/或，在所述步骤（C11）中，所述金属研钵为铁研钵或铜研钵；

和/或，在所述步骤（C12）中，所述第一预定时间为15分钟。

7.根据权利要求4所述的一种粉砂岩颗粒全组分粒度分析新方法，其特征在于，当所述粉砂岩样为所述第二类粉砂岩样时，所述步骤（C）具体包括如下步骤：

（C21）将所述原始样品在金属研钵中敲碎，并研磨至粒径小于或等于第二预定值，得到第二研磨样本；

（C22）向所述第二研磨样本上滴加第二质量浓度的稀盐酸，至无气泡生成或反应第二预定时间，得到反应样本；

（C23）向所述反应样本中加清水，在规定转速和规定时间下，进行离心分离，离心分离后去除清液，得到离心分离样本；

（C24）对所述离心分离样本进行过滤，直至滤除液为中性，得到中性样本；

（C25）将所述中性样本转移至玛瑙研钵中，研磨第三预定时间，至颗粒完全分散，得到所述分析样本；

（C26）将所述分析样本转移至烧杯中，用清水清洗玛瑙研钵，清洗后的液体倒入烧杯中，搅拌均匀，形成所述浑浊液。

8.根据权利要求7所述的一种粉砂岩颗粒全组分粒度分析新方法，其特征在于，在所述步骤（C21）中，所述第二预定值为1毫米；

和/或，所述金属研钵为铁研钵或铜研钵；

和/或，在所述步骤（C23）中，所述规定转速为11000转/分钟，所述规定时间为20分钟。

9.根据权利要求7所述的一种粉砂岩颗粒全组分粒度分析新方法，其特征在于，在所述步骤（C22）中，所述第二质量浓度为5%～10%；

和/或，所述第二预定时间为30分钟；

和/或，在所述步骤（C25）中，所述第三预定时间为15分钟。

10.根据权利要求7所述的一种粉砂岩颗粒全组分粒度分析新方法，其特征在于，重复所述步骤（C23）2次～10次。