[发明专利]图像型电子自旋分析器有效

专利信息
申请号: 201310313572.0 申请日: 2013-07-24
公开(公告)号: CN104345331B 公开(公告)日: 2017-04-19
发明(设计)人: 乔山;万维实;季福昊 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: G01T1/32 分类号: G01T1/32
代理公司: 上海光华专利事务所31219 代理人: 李仪萍
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 图像 电子 自旋 分析器
【权利要求书】:

1.一种图像型电子自旋分析器,其特征在于,所述图像型电子自旋分析器至少包括:

散射靶、二维图像型电子探测器、电子弯转单元;

其中,所述电子弯转单元包括磁场产生单元以及第一电子透镜、第二电子透镜、第三电子透镜,初始电子平面、散射靶、二维图像型电子探测器分别处于所述第一电子透镜、第二电子透镜、第三电子透镜的焦平面上;所述电子弯转单元用于使来自所述初始电子平面处的入射电子经过所述第一电子透镜后进入所述磁场产生单元,该磁场产生单元使入射电子弯转180°后经由所述第二电子透镜垂直入射至所述散射靶,经过所述散射靶散射的出射电子经过所述第二电子透镜后再一次进入所述磁场产生单元,该磁场产生单元使出射电子再一次弯转180°后经由所述第三电子透镜垂直到达所述二维图像型电子探测器;且入射电子的运动轨道与出射电子的运动轨道分离。

2.根据权利要求1所述的图像型电子自旋分析器,其特征在于:所述磁场产生单元包括主二极磁铁和至少一个用于对主二极磁铁产生的磁场的边缘进行修正并对电子束进行垂直于电子弯转平面方向的聚焦的矫正磁铁。

3.根据权利要求1所述的图像型电子自旋分析器,其特征在于:所述散射靶包括Fe(001)-p(1×1)O靶或W(100)靶。

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