[发明专利]一种提高LTE PUCCH DTX检测性能的方法有效
申请号: | 201310304069.9 | 申请日: | 2013-07-18 |
公开(公告)号: | CN103369655A | 公开(公告)日: | 2013-10-23 |
发明(设计)人: | 曾召华 | 申请(专利权)人: | 西安科技大学 |
主分类号: | H04W52/14 | 分类号: | H04W52/14 |
代理公司: | 西安永生专利代理有限责任公司 61201 | 代理人: | 申忠才 |
地址: | 710054 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 lte pucch dtx 检测 性能 方法 | ||
技术领域
本发明涉及无线通信系统中的无线性能提升技术领域,具体涉及一种提高LTE PUCCH DTX检测性能的方法。
背景技术
LTE一直受到移动通信产业的青睐。随着LTE技术的发展,越来越多的全球领先运营商纷纷将LTE作为网络面向未来的演进方向,设备制造商也纷纷加大了在LTE领域的投入,从而推动了LTE的不断前进。与3G(3rd Generation)相比,LTE具有以下的技术特征:(1)降低每比特成本,提高上下行通信数据速率;(2)频谱效率提高,灵活使用现有的和新的频段;(3)QoS(Quality of Service)保证,扩展业务的提供能力,以更低的成本、更佳的用户体验提供更多的业务;(4)降低无线网络时延,简化架构,开放接口;(5)增加小区边缘比特速率,在保持目前基站位置不变的情况下增加小区边缘比特速率等。
LTE PUCCH承载上行控制信息UCI(Uplink Control Information),具体包括CQI(Channel Quality Indication)信息、HARQ(Hybrid Automatic Repeat Quest)确认信息、及SR(Schedule Request)信息等。我们知道,无线信道多径传输、终端UE的移动以及天线的不同空间位置必然会分别造成无线信道的频率选择性衰落、时间选择性衰落以及空间选择性衰落,那么,PUCCH性能的改善必须要充分考虑好这些衰落。
PUCCH的DTX检测的目的,是为了防止UE未发射UCI信息而基站错误去检测带来的“虚警”,显然提高DTX检测的门限,可以更好的抑制“虚警”,降低“虚警”概率,但门限越高,“漏警”概率越高,即UE发射了UCI信息,但基站因为未过DTX门限而错过解调。因此,如何在保证“虚警”的概率下,尽量降低门限,从而保证漏警尽量小是衡量 DTX检测算法的唯一标准。
从LTE中PUCCH协议看,PUCCH必然存在时隙间跳频,明显这样设计目的就是为了获取频率分集增益,就是为了提升时隙间不平衡干扰下的PUCCH解调性能;对于PUCCH部分UCI内容,在不同时隙间分别传输相同的内容,这也是为了获取时间分集增益,抵抗时间选择性衰落的目的;那么PUCCH解调性能要想得到最大的提升,不仅要考虑以上各个维度,而且要在各个维度上加权合并(等比例合并一定不是最优的);本专利提到的对均衡解调前数据先进行时隙间、天线间NI拉平处理然后再进行PUCCH DTX检测和解调处理的方法,其实就是在各个维度上的加权合并处理。
基于目前PUCCH解调合并采用时隙间、天线间的直接合并,即等比例合并的现状,无法大幅提升PUCCH信道的无线性能。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术中的不足,提供一种方法对UE均衡解调数据先进行时隙间、天线间的NI拉平处理,然后再进行DTX检测以及PUCCH解调处理;使用本发明方案后,在NI差异较大场景下,仿真和实现环境都看到了非常大的性能增益;在NI差异较小场景下,仿真和实现环境性能保证不损失,综合看在保证“虚警”概率达标的前提下,大大降低了PUCCH的“漏警”概率,从而提升了PUCCH信道的无线性能,进而提升整个LTE系统的吞吐量性能。
解决上述技术问题所采用的技术方案由以下步骤组成:
1、分别计算出所有UE在不同时隙、不同天线上的NI功率,计作Pn(sloti,antj),其中i=0,1;j=0,1,...,M-1;M为收端基站天线数。
2、置用户索引Index_User为1,即从第一个UE开始,通过本方案计算得到每个UE经NI拉平处理后的DTX检测性能和PUCCH数据解调性能。
3、计算出当前UE在对应的第一步计算出所有Pn值中的最小值,记为 Pn_min。
4、计算出当前UE不同时隙、不同天线数据对应的NI拉平加权因子,计算方法为按下式进行计算:
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