[发明专利]一种电压检测系统及检测设备

说明书

技术领域

本发明涉及保护电路领域，尤其涉及一种电压检测系统及检测设备。

背景技术

照明产品在现代社会应用非常广泛且重要，并且在各行各业应用都可能有所不同。但同样的目的都是为用户提供足够的亮度来使用户能够在光线不充足的地方进行阅读、工作、学习等。

随着人们生活品质的提高，用户对照明质量要求越来越高，对灯具产品的性能要求也越来越高，故灯具产品在出厂前为保证灯具的能够达到满足客户要求的理论性能，需对灯具产品进行老化测试。

在灯具进行老化测试的过程中，由于输入电压的不稳定，会导致灯具受高压或低压电源波动，这样导致测试结果不准确，使灯具在老化一定时间后测试光源光参数、电气部件的电参数等性能参数都会发生很大的漂移，甚至于导致样品损坏、测试数据不准确或者需重新进行测试，这浪费公司资源并且增加测试周期，增加了项目开发成本。而且生厂商为预防输入电压的不稳定导致待测灯具测试数据不准确，增加检测人员来定时测试输入电压的数值，但这也无法彻底保证测试数据的准确性，浪费人力资源，并且测试人员的工作强度大，却工作效率不高。

发明内容

本发明实施例所要解决的技术问题在于，提供一种电压检测系统及检测设备。可在电源输出工作电压不稳定时保护待测负载，同时提高测试人员工作效率，降低测试成本。

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种电压检测系统，所述系统与至少一个待测负载相连接，所述系统包括电源，所述系统还包括：

降压整流滤波电路、过压检测电路、欠压检测电路、三极管VT1以及开关控制器；

所述三极管VT1的基极分别与所述过压检测电路的一端和所述欠压检测电路的一端相连接，所述欠压检测电路的另一端和所述过压检测电路的另一端分别与所述电源相连接，所述三极管VT1的集电极通过所述开关控制器与所述降压整流滤波电路的一端相连接，所述三极管的VT1的发射极和所述欠压检测电路的又一端接地；

所述降压整流滤波电路的一端分别与所述过压检测电路的又一端和所述开关控制器的一端相连接，所述降压整流滤波电路的另一端与所述电源相连接。

其中，所述过压检测电路包括：

发光组件1、可调电阻RP1、非门电路1、非门电路2和二极管VD3；

所述发光组件1一端与所述降压整流滤波电路连接，所述发光组件1的另一端与所述非门电路1的输出端连接；

所述非门电路1的输入端与所述可调电阻RP1的滑片端连接，所述可调电阻RP1的一端与所述电源连接，所述可调电阻RP1的另一端接地，所述非门电路1的输出端与所述非门电路2输入端相连接；

所述非门电路2的输入端与所述非门电路1的输出端相连接，所述非门电路2的输出端与所述二极管VD3阳极连接，所述二极管VD3阴极与所述三极管的VT1基极连接。

其中，所述发光组件1包括：

分压电阻R2和发光二极管LED1；

所述发光二极管LED1的阳极通过所述分压电阻R2与所述降压整流滤波电路连接，所述发光二极管LED1的阴极与所述非门电路1的输出端连接。

其中，所述欠压检测电路包括：

发光组件2、可调电阻RP2、非门电路3和二极管VD4；

所述非门电路3的输入端与所述可调电阻RP2的滑片端连接，所述可调电阻RP2的一端与所述电源连接，所述可调电阻RP2的另一端接地，所述非门电路3的输出端与所述二极管VD4的阳极连接，所述二极管VD4阴极与所述三极管VT1基极连接；

所述发光组件2一端与所述二极管VD4的阳极连接，所述发光组件2另一端接地。

其中，所述发光组件2包括：

分压电阻R3和发光二极管LED2；

所述发光二极管LED2的阳极通过所述分压电阻R3与二极管VD4的阳极连接，所述发光二极管LED2的阴极接地。

其中，所述系统还包括：分压电阻R1、整流二极管VD1和滤波电容C3；

所述可调电阻RP1的一端与所述电源连接包括：

所述可调电阻RP1的一端与所述整流二极管VD1的阴极连接，所述整流二极管VD1的阳极通过所述分压电阻R1连接到电源，所述滤波电容C3的一端与所述整流二极管VD1的阴极连接，所述滤波电容C3的另一端接地；

所述可调电阻RP2的一端与所述电源连接包括：

所述可调电阻RP2的一端与所述整流二极管VD1的阴极连接。

其中，所述开关控制器包括：二极管VD2和继电器K-1；