[发明专利]一种电压检测系统及检测设备

权利要求书

1.一种电压检测系统，所述系统与至少一个待测负载相连接，所述系统包括电源，其特征在于，所述系统包括：

降压整流滤波电路、过压检测电路、欠压检测电路、三极管VT1以及开关控制器；

所述三极管VT1的基极分别与所述过压检测电路的一端和所述欠压检测电路的一端相连接，所述欠压检测电路的另一端和所述过压检测电路的另一端分别与所述电源相连接，所述三极管VT1的集电极通过所述开关控制器与所述降压整流滤波电路的一端相连接，所述三极管的VT1的发射极和所述欠压检测电路的又一端接地；

所述降压整流滤波电路的一端分别与所述过压检测电路的又一端和所述开关控制器的一端相连接，所述降压整流滤波电路的另一端与所述电源相连接。

2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述过压检测电路包括：

发光组件1、可调电阻RP1、非门电路1、非门电路2和二极管VD3；

所述发光组件1一端与所述降压整流滤波电路连接，所述发光组件1的另一端与所述非门电路1的输出端连接；

所述非门电路1的输入端与所述可调电阻RP1的滑片端连接，所述可调电阻RP1的一端与所述电源连接，所述可调电阻RP1的另一端接地，所述非门电路1的输出端与所述非门电路2输入端相连接；

所述非门电路2的输入端与所述非门电路1的输出端相连接，所述非门电路2的输出端与所述二极管VD3阳极连接，所述二极管VD3阴极与所述三极管的VT1基极连接。

3.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述发光组件1包括：

分压电阻R2和发光二极管LED1；

所述发光二极管LED1的阳极通过所述分压电阻R2与所述降压整流滤波电路连接，所述发光二极管LED1的阴极与所述非门电路1的输出端连接。

4.如权利要求3所述的系统，其特征在于，所述欠压检测电路包括：

发光组件2、可调电阻RP2、非门电路3和二极管VD4；

所述非门电路3的输入端与所述可调电阻RP2的滑片端连接，所述可调电阻RP2的一端与所述电源连接，所述可调电阻RP2的另一端接地，所述非门电路3的输出端与所述二极管VD4的阳极连接，所述二极管VD4阴极与所述三极管VT1基极连接；

所述发光组件2一端与所述二极管VD4的阳极连接，所述发光组件2另一端接地。

5.如权利要求4所述的系统，其特征在于，所述发光组件2包括：

分压电阻R3和发光二极管LED2；

所述发光二极管LED2的阳极通过所述分压电阻R3与二极管VD4的阳极连接，所述发光二极管LED2的阴极接地。

6.如权利要求5所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：分压电阻R1、整流二极管VD1和滤波电容C3；

所述可调电阻RP1的一端与所述电源连接包括：

所述可调电阻RP1的一端与所述整流二极管VD1的阴极连接，所述整流二极管VD1的阳极通过所述分压电阻R1连接到电源，所述滤波电容C3的一端与所述整流二极管VD1的阴极连接，所述滤波电容C3的另一端接地；

所述可调电阻RP2的一端与所述电源连接包括：

所述可调电阻RP2的一端与所述整流二极管VD1的阴极连接。

7.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述开关控制器包括：二极管VD2和继电器K-1；

二极管VD2的阴极与所述降压整流滤波电路一端连接，二极管VD2的阳极与三极管VT1的集电极连接，继电器K-1中线圈的一端与二极管VD2的阴极连接，继电器K-1中线圈的另一端与二极管VD2的阳极连接，继电器K-1中常闭触点的一端连接所述电源，继电器K-1中常闭触点的另一端连接至少一个所述待测负载。