[发明专利]波长可变干涉滤波器、滤光器设备、光模块及电子设备在审
申请号: | 201310291831.4 | 申请日: | 2013-07-11 |
公开(公告)号: | CN103576311A | 公开(公告)日: | 2014-02-12 |
发明(设计)人: | 广久保望 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | G02B26/00 | 分类号: | G02B26/00;G02B5/28;G01R27/26 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 波长 可变 干涉 滤波器 滤光 设备 模块 电子设备 | ||
1.一种波长可变干涉滤波器,其特征在于,具备:
第一基板;
第二基板,与所述第一基板相对配置;
第一反射膜,设置在所述第一基板上,所述第一反射膜将入射的光的一部分反射并使一部分透过;
第二反射膜,设置在所述第二基板上,所述第二反射膜将入射的光的一部分反射并使一部分透过,隔着相对于所述第一反射膜的表面间的距离、即反射膜间间隙而与所述第一反射膜相对配置;
第一驱动电极,设置在所述第一基板上;
第二驱动电极,设置在所述第二基板上,隔着相对于所述第一驱动电极的表面间的距离、即驱动电极间间隙而与所述第一驱动电极相对配置;
第一电容检测电极,设置在所述第一基板上;以及
第二电容检测电极,设置在所述第二基板上,隔着相对于所述第一电容检测电极的表面间的距离、即电容检测电极间间隙而与所述第一电容检测电极相对配置,
所述第一电容检测电极以及所述第二电容检测电极是用于测定所述第一电容检测电极以及所述第二电容检测电极间的静电电容的静电电容检测用电极,
通过所述第一驱动电极以及所述第二驱动电极构成使所述反射膜间间隙的间隙量变更的间隙量变更部,
所述反射膜间间隙、所述驱动电极间间隙和所述电容检测电极间间隙是相互不同的间隙量。
2.根据权利要求1所述的波长可变干涉滤波器,其特征在于,所述电容检测电极间间隙的间隙量gs比所述反射膜间间隙的间隙量gm大。
3.根据权利要求1或2所述的波长可变干涉滤波器,其特征在于,
在从所述第一基板以及所述第二基板的基板厚度方向俯视观察所述波长可变干涉滤波器时,
所述第一驱动电极被配置在所述第一反射膜的外侧,
所述第一电容检测电极被配置在所述第一驱动电极的外侧,
所述第二驱动电极被配置在所述第二反射膜的外侧,
所述第二电容检测电极被配置在所述第二驱动电极的外侧。
4.根据权利要求1或2所述的波长可变干涉滤波器,其特征在于,
在从所述第一基板以及所述第二基板的基板厚度方向俯视观察所述波长可变干涉滤波器时,
所述第一电容检测电极被配置在所述第一驱动电极的内侧且所述第一反射膜的外侧,
所述第二电容检测电极被配置在所述第二驱动电极的内侧且所述第二反射膜的外侧。
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