[发明专利]物体表面状况的检测方法和装置

说明书

技术领域

 本发明属于检测领域，特别涉及一种将物体表面成像后进行检测的方法和装置。

背景技术

在文物鉴定、压痕字迹鉴定等鉴定领域中，对物体表面状况的检测是至关重要的。有效的检测方法将有助于鉴定人员对物体表面的纹理、缺点等状况所产生的机理或原因进行正确的分析。

在现有技术中，通常是借助微观成像设备直接对物体表面的某区域进行放大，但其只能从相对单一的角度来检测物体表面，不能从整体上对物体表面状况进行检测，其检测结果并不理想。

也有通过将被检测物体的个别角度成像后所产生的阴影来判断物体表面是否有突起、凹坑等缺陷，但是该方法只能简单判断出物体表面是否有突起或凹坑等缺陷，却无法了解到缺陷的形状、大小等具体情况。

还有通过在一个平面上设置环形光源，将被检测物体放置在环形光源的轴向上，并在大致与光源所在环形的平面上设置多个光电探测器以接收光源反射的光束，以分析物体表面状况。该方法中的光源设置数量和位置比较单一，对物体表面的照射角度也是比较有局限的，因此检测精度也不高。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种物体表面状况的检测方法和装置，能够通过对被检测物体整体的三维图片进行分析以获得被检测物体整体的表面状况，具有较高的检测精度和较全面的检测结果。

本发明一方面提供了一种物体表面状况的检测方法，包括： 

将被检测物体放置于成像单元拍摄方向的正下方；

在以被检测物体放置的位置为球心、以预设长度为半径、向所述成像单元方向延伸的半球体的球面上均匀设置多个光源；

打开一个光源；

由所述成像单元拍摄在该光源照射下的被检测物体并将拍摄的图片进行存储；

关闭当前打开的光源，打开下一个光源，重复上述步骤直到打开设定数量的光源；

将所拍摄的所有上述图片进行处理形成所述被检测物体整体的三维图片；

对所述三维图片进行分析以获得被检测物体表面状况的检测结果。

进一步的，在打开一个光源的步骤之前还包括：屏蔽所述半球体周围的光源和反光物。

进一步的，在以被检测物体放置的位置为球心、以预设长度为半径、向所述成像单元方向延伸的半球体的球面上均匀设置多个光源的步骤，具体为：

在所述半球体的球面上，将每隔10?或15?的横截圆面的半圆周设置为光源区；

在所述每个光源区上，每隔10?设置一个光源。

进一步的，所述成像单元相对于所述被检测物体的位置是可调的。

进一步的，所述光源的亮度是可调的。

本发明另一方面提出了一种物体表面状况的检测装置，包括： 

多个光源，均匀设置于以被检测物体放置的位置为球心、以预设长度为半径、向所述成像单元方向延伸的半球体的球面上；

光源开关，用于打开和关闭每个所述光源；

成像单元，用于拍摄在所述光源照射下的被检测物体并将拍摄的图片进行存储；

图片处理单元，用于将所拍摄的所有图片进行处理形成所述被检测物体整体的三维图片；

分析单元，用于对所述三维图片进行分析以获得被检测物体表面状况的检测结果。

进一步的，所述装置还包括：

屏蔽单元，用于屏蔽所述半球体周围的光源和反光物。

进一步的，每个所述光源的位置具体为：

在所述半球体的球面上，将每隔10?或15?的横截圆面的半圆周设置为光源区，在所述每个光源区上，每隔10?设置一个光源。进一步的，所述成像单元相对于所述被检测物体的位置是可调的。

进一步的，所述光源的亮度是可调的。

通过本发明提供的物体表面状况的检测方法和装置，能够通过对被检测物体整体的三维图片进行分析以获得被检测物体整体的表面状况，具有较高的检测精度和较全面的检测结果。

附图说明

图1是本发明物体表面状况的检测方法一实施例的流程图；

图2是本发明物体表面状况的检测装置一实施例的示意图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

参照图1，示出了本发明物体表面状况的检测方法一实施例的流程图。其中包括如下步骤： 

S11，将被检测物体放置于成像单元拍摄方向的正下方。

S12，在以被检测物体放置的位置为球心、以预设长度为半径、向成像单元方向延伸的半球体的球面上均匀设置多个光源。