[发明专利]物体表面状况的检测方法和装置

权利要求书

1.一种物体表面状况的检测方法，其特征在于，包括： 

将被检测物体放置于成像单元拍摄方向的正下方；

在以被检测物体放置的位置为球心、以预设长度为半径、向所述成像单元方向延伸的半球体的球面上均匀设置多个光源；

打开一个光源；

由所述成像单元拍摄在该光源照射下的被检测物体并将拍摄的图片进行存储；

关闭当前打开的光源，打开下一个光源，重复上述步骤直到打开设定数量的光源；

将所拍摄的所有上述图片进行处理形成所述被检测物体整体的三维图片；

对所述三维图片进行分析以获得被检测物体表面状况的检测结果。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在打开一个光源的步骤之前还包括：屏蔽所述半球体周围的光源和反光物。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在以被检测物体放置的位置为球心、以预设长度为半径、向所述成像单元方向延伸的半球体的球面上均匀设置多个光源的步骤，具体为：

在所述半球体的球面上，将每隔10?或15?的横截圆面的半圆周设置为光源区；

在所述每个光源区上，每隔10?设置一个光源。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述成像单元相对于所述被检测物体的位置是可调的。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光源的亮度是可调的。

6.一种物体表面状况的检测装置，其特征在于，包括： 

多个光源，均匀设置于以被检测物体放置的位置为球心、以预设长度为半径、向所述成像单元方向延伸的半球体的球面上；

光源开关，用于打开和关闭每个所述光源；

成像单元，用于拍摄在所述光源照射下的被检测物体并将拍摄的图片进行存储；

图片处理单元，用于将所拍摄的所有图片进行处理形成所述被检测物体整体的三维图片；

分析单元，用于对所述三维图片进行分析以获得被检测物体表面状况的检测结果。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，还包括：

屏蔽单元，用于屏蔽所述半球体周围的光源和反光物。

8.如权利要求6所述的装置，其特征在于，每个所述光源的位置具体为：

在所述半球体的球面上，将每隔10?或15?的横截圆面的半圆周设置为光源区，在所述每个光源区上，每隔10?设置一个光源。

9.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述成像单元相对于所述被检测物体的位置是可调的。

10.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述光源的亮度是可调的。