[发明专利]一种连续光谱散射式颗粒测量方法有效
| 申请号： | 201310281213.1 | 申请日： | 2013-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN103308432A | 公开（公告）日： | 2013-09-18 |
| 发明（设计）人： | 魏永杰;李春雨;刘翠翠 | 申请（专利权）人： | 河北工业大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/06 |
| 代理公司： | 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 | 代理人： | 李益书 |
| 地址： | 300130*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 连续光谱 散射 颗粒 测量方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种连续光谱散射式颗粒测量方法，其特征在于该方法的具体步骤是：
由光源(1)发出连续波长的光经准直透镜(2)后照射在待测颗粒样品(3)中，经待测颗粒散射后由聚焦镜会聚于一点；
将光谱仪的接收端口或光纤端口置于聚焦镜的会聚点位置，待测颗粒的散射光信号导入光谱仪进行分析，得到不同波长散射光的强度分布，通过数据反演得到待测颗粒粒度和浓度。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于所述光源(1)采用连续波长的光源。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于将大范围散射角度内颗粒的连续波长散射信号会聚到聚焦镜的一点后由光谱仪接收并进行分析。
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