[发明专利]一种磁存储介质数据销毁效果检测方法有效

专利信息
申请号: 201310281041.8 申请日: 2013-07-05
公开(公告)号: CN103400586A 公开(公告)日: 2013-11-20
发明(设计)人: 温柏龙;张剑;刘晓毅;易涛;齐伟钢;黄旭 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第三十研究所
主分类号: G11B5/024 分类号: G11B5/024;G01R33/12
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 徐宏
地址: 610000 *** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 存储 介质 数据 销毁 效果 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种磁存储介质数据销毁效果检测方法,其具体包括以下步骤:取记录了数据的磁存储介质作为被测样件,先得到被测样件的磁化强度                                               ,再将被测样件进行消磁,得到被测样件消磁后的磁化强度,然后根据消磁前后的磁化强度计算出消磁系数γ,最后根据消磁系数γ判断磁存储介质上数据销毁的程度。

2.如权利要求1所述的磁存储介质数据销毁效果检测方法,其特征在于所述消磁系数γ的计算公式为:。

3.如权利要求2所述的磁存储介质数据销毁效果检测方法,其特征在于所述根据消磁系数γ判断磁存储介质上数据销毁程度的方法具体为:γ值越小,数据彻底消除的效果越好。

4.如权利要求3所述的磁存储介质数据销毁效果检测方法,其特征在于所述磁存储介质为磁带、软盘或者硬盘。

5.如权利要求1所述的磁存储介质数据销毁效果检测方法,其特征在于采用振动样品磁强计检测被测样件消磁前后的磁化强度和。

6.如权利要求1所述的磁存储介质数据销毁效果检测方法,其特征在于检测磁存储介质磁化强度的具体步骤为:采用振动样品磁强计测量磁存储介质的磁滞回线,根据磁滞回线读取出剩余磁化强度,其剩余磁化强度即为消磁前磁存储介质的磁化强度。

7.如权利要求1所述的磁存储介质数据销毁效果检测方法,其特征在于检测消磁后磁存储介质磁化强度的具体步骤为:在一段时间内,每间隔一定时间读取一次磁矩,然后取磁矩的平均值,磁矩的平均值即为消磁后磁存储介质的磁化强度。

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