[发明专利]触摸按键的测试系统及其方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种触摸按键的测试系统及其方法，尤其涉及一种测试触摸按键短路情况的测试系统及其方法。

背景技术

随着触控技术的迅速发展，具有触摸按键的电子产品已经进入了人们的日常生活中，同时给人们的生活带来了很大的便利。在生产具有触摸按键的电子产品时，需要对触摸按键的短路情况进行测试，以保证产品的合格性。现有技术中，对触摸按键的短路测试方法存在一定的漏检，不能将每个触摸按键都测试，也不能精确的测试出每个存在短路的触摸按键，不利于保证产品的良率，对产品的销售有很大的影响。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种能够有效测试触摸按键短路情况的测试系统及其方法。

本发明提供了一种触摸按键的测试系统，该测试系统与一电子装置连接，该电子装置具有多个触摸按键，所述测试系统包括：

一测试治具，用于按顺序触摸所述电子装置的多个触摸按键；

一测试装置，该测试装置用于测试所述多个触摸按键的短路情况，包括：

一侦测模块，用于侦测每个触摸按键被触摸后同时响应的触摸按键数量以及按键名称；

一第一判断模块，用于根据所述侦测模块侦测的每个触摸按键被触摸时同时响应的触摸按键数量判断响应的触摸按键数量是否大于一个并给出判断结果；

一计数模块，用于判断所述侦测模块是否将全部的触摸按键均侦测完毕，以及

一第二判断模块，用于在所述计数模块确定已经侦测完毕后根据所述第一判断模块的判断结果判断所述多个触摸按键是否均正常并给出判断结果。

本发明还提供了一种电子装置的测试方法，所述电子装置包括多个触摸按键，该方法包括：

a)，侦测所述多个触摸按键中每个触摸按键被触摸后同时响应的触摸按键数量以及按键名称；

b)，判断同时响应的触摸按键数量是否大于一个；

c)，判断所述多个触摸按键是否均被侦测完毕，若是，进入步骤d；否则返回步骤a；以及

d)，根据对多个触摸按键的侦测结果判断该多个触摸按键是否均正常。

本发明之一种触摸按键测测试系统及其方法，使用测试装置对电子装置的触摸按键进行检测，通过侦测每个触摸按键被触摸后响应的触摸按键数量判断被触摸的触摸按键是否存在短路情况，精确的测试出了每个存在短路的触摸按键，保证了产品的良率。

附图说明

图1为本发明的一实施方式的模块示意图。

图2为图1中系统的方法流程图。

图3为本发明另一实施方式的模块示意图。

图4为图3中系统的方法流程图。

主要元件符号说明