[发明专利]触摸按键的测试系统及其方法无效
申请号: | 201310261681.2 | 申请日: | 2013-06-27 |
公开(公告)号: | CN104251949A | 公开(公告)日: | 2014-12-31 |
发明(设计)人: | 高俊娟;杨小伟;王阳;陈俊卿 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02;G01R31/327 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 触摸 按键 测试 系统 及其 方法 | ||
1.一种触摸按键的测试系统,该测试系统与一电子装置连接,该电子装置具有多个触摸按键,其特征在于,所述测试系统包括:
一测试治具,用于按顺序触摸所述电子装置的多个触摸按键;
一测试装置,该测试装置用于测试所述多个触摸按键的短路情况,包括:
一侦测模块,用于侦测每个触摸按键被触摸后同时响应的触摸按键数量以及按键名称;
一第一判断模块,用于根据所述侦测模块侦测的每个触摸按键被触摸时同时响应的触摸按键数量判断响应的触摸按键数量是否大于一个并给出判断结果;
一计数模块,用于判断所述侦测模块是否将全部的触摸按键均侦测完毕,以及
一第二判断模块,用于在所述计数模块确定已经侦测完毕后根据所述第一判断模块的判断结果判断所述多个触摸按键是否均正常并给出判断结果。
2.如权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述测试系统还包括:
一显示模块,用于在所述第一判断模块判断响应的触摸按键数量大于一个时,显示该被触摸的触摸按键以及同时响应的其他触摸按键,以及用于显示所述第二判断模块的判断结果。
3.如权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述电子装置通过线缆或者其他连接装置与所述测试和组装系统连接。
4.如权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述侦测模块通过触摸按键反馈的响应信号侦测同时响应的触摸按键数量以及按键名称。
5.一种触摸按键的测试系统,其特征在于,该系统包括一电子装置,该电子装置具触摸按键测试功能,包括:
一触摸按键单元,包括多个触摸按键;
一侦测模块,用于侦测所述触摸按键单元的每个触摸按键被触摸后同时响应的触摸按键数量以及按键名称;
一记录模块,用于记录所述侦测模块侦测的每个触摸按键被触摸后同时响应的触摸按键数量以及按键名称;
一第一判断模块,用于根据所述侦测模块侦测的每个触摸按键被触摸时同时响应的触摸按键数量判断响应的触摸按键数量是否大于一个并给出判断结果;
一第二判断模块,用于在所述计数模块确定已经侦测完毕后根据所述第一判断模块的判断结果判断所述多个触摸按键是否均正常并给出判断结果。
6.如权利要求5所述的测试系统,其特征在于,所述测试系统还包括:
一显示模块,用于在所述第一判断模块判断响应的触摸按键数量大于一个时,显示该被触摸的触摸按键以及同时响应的其他触摸按键,以及用于显示所述第二判断模块的判断结果。
7.如权利要求5所述的测试系统,其特征在于,所述侦测模块通过触摸按键反馈的响应信号侦测同时响应的触摸按键数量以及按键名称。
8.一种电子装置的测试方法,所述电子装置包括多个触摸按键,其特征在于,该方法包括:
a),侦测所述多个触摸按键中每个触摸按键被触摸后同时响应的触摸按键数量以及按键名称;
b),判断同时响应的触摸按键数量是否大于一个;
c),判断所述多个触摸按键是否均被侦测完毕,若是,进入步骤d;否则返回步骤a;以及
d),根据对多个触摸按键的侦测结果判断该多个触摸按键是否均正常。
9.如权利要求8所述的测试方法,其特征在于,在确认多个触摸按键均正常后进入步骤e:
e),显示一测试通过信息。
10.如权利要求8所述的测试方法,其特征在于,在判断同时响应的触摸按键数量大于一个时,在进入c)之前还包括步骤f):显示被触摸的按键以及同时响应的按键;以及
在确认多个触摸按键存在短路后进入步骤g):显示一警示信息,通知测试人员及时维修存在短路的触摸按键。
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