[发明专利]提高多晶硅片转换效率的多晶铸锭工艺有效
| 申请号: | 201310251678.2 | 申请日: | 2013-06-21 |
| 公开(公告)号: | CN103590102A | 公开(公告)日: | 2014-02-19 |
| 发明(设计)人: | 杨平;王启阳 | 申请(专利权)人: | 横店集团东磁股份有限公司 |
| 主分类号: | C30B28/06 | 分类号: | C30B28/06;C30B29/06 |
| 代理公司: | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人: | 尉伟敏 |
| 地址: | 322118 *** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 提高 多晶 硅片 转换 效率 铸锭 工艺 | ||
1.一种提高多晶硅片转换效率的多晶铸锭工艺,包括坩埚喷涂、装料、熔化和晶体生长,其特征在于,晶体生长包括长晶初期、长晶中期和长晶后期,长晶初期,控制隔热笼的打开速度为0.003-0.15cm/min,持续时间为30-180min,使隔热笼的开度达到3-8cm;长晶中期,控制隔热笼的打开速度为0.0075-0.009cm/min,持续15-30h;长晶后期,控制隔热笼的打开速度为0.004--0.006cm/min,持续直到中心长晶结束,使隔热笼的开度达到15-20cm。
2.根据权利要求1所述的提高多晶硅片转换效率的多晶铸锭工艺,其特征在于,所述长晶初期的温度控制为1410-1440℃。
3.根据权利要求1或2所述的提高多晶硅片转换效率的多晶铸锭工艺,其特征在于,所述长晶中期结束后的温度控制为1405-1430℃。
4.根据权利要求3所述的提高多晶硅片转换效率的多晶铸锭工艺,其特征在于,所述长晶后期结束后的温度控制为1400-1423℃。
5.根据权利要求4所述的提高多晶硅片转换效率的多晶铸锭工艺,其特征在于,所述长晶初期的温度控制为1435-1440℃,长晶中期结束后的温度控制为1420-1430℃,长晶后期结束后的温度控制为1410-1420℃。
6.根据权利要求1或2所述的提高多晶硅片转换效率的多晶铸锭工艺,其特征在于,所述熔化时控制炉体内温度为1550℃,炉底温度为1300-1380℃。
7.根据权利要求1或2所述的提高多晶硅片转换效率的多晶铸锭工艺,其特征在于,所述装料时,预先在硅料底部放置一层氧化铝晶体颗粒、SiC或单晶片。
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