[发明专利]联合测试行为组织串联链中器件的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试方法，特别是涉及一种联合测试行为组织串联链中器件的测试方法。

背景技术

联合测试行为组织(JTAG，Joint Test Action Group)测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。图1为常见的多个JTAG器件串联方式。如图1所示，多个器件通过JTAG接口串联在一起，其中，每个器件均有四个引脚：TCK—测试时钟输入；TDI—测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口；TDO—测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出；TMS—测试模式选择，TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。通过TCK、TMS的设置，可将JTAG设置为捕获指令CAPTURE_IR或捕获数据CAPTURE_DR状态。图1中，唯一标识寄存器ID为32位，旁路寄存器Bypass为1位，指令寄存器的宽度一般大于2小于等于16。

目前，JTAG接口还常用于实现在系统编程(ISP，In-System Programmer)，对FLASH等器件进行编程。只要知道每个设备的指令寄存器的宽度，就可以旁路(Bypass)链中其它的器件、对目标芯片进行编程与调试。传统的编程器在多链中指定器件编程时，为了能够Bypass其它器件，需要从器件指定的边界扫描描述语言(BSDL，Boundary Scan Description Language)文件获取指令寄存器宽度等器件信息。然而在某一特定条件或环境中，由于没有相应的BSDL文件，则无法Bypass此器件，导致JTAG编程失败。

发明内容

本发明的目的是提供一种通过输入特定的二进制数据流，自动计算JTAG串联链中各器件的指令寄存器宽度，实现对目标器件编程的方法。

为实现上述目的，本发明提供了一种JTAG串联链中器件的测试方法，包括以下步骤：

重置Reset联合测试行为组织JTAG串联链及串联链中各器件的数据寄存器和指令寄存器中的数据；

在JTAG的状态为移位指令SHIFT_IR时，在测试时钟TCK节拍的控制下，通过JTAG串联链的测试数据输入TDI口，输入长度为2N的第一数据流，同时通过JTAG串联链的测试数据输出TDO口移位出各指令寄存器中的二进制数据流，得到第一输出序列；

重置JTAG串联链及串联链中各器件的数据寄存器和指令寄存器中的数据，在JTAG的状态为移位指令SHIFT_IR时，在TCK节拍的控制下，通过JTAG串联链的TDI口，输入长度为2N的第二数据流，同时通过JTAG串联链的TDO口移位出各指令寄存器中的二进制数据流，得到第二输出序列；

根据所述第一输出序列和第二输出序列，计算出所述JTAG串联链中所有器件的指令寄存器的宽度之和M；

根据所述第一输出序列，第二输出序列和所述计算出的所述JTAG串联链中所有器件的指令寄存器的宽度之和M，计算出各个器件的指令寄存器的宽度；

通过输入M位特定的二进制数据流，选中目标器件，其中，在所述M位特定的二进制数据流中，与选中的目标器件的位置对应的字段为与选择唯一标识指令相对应的二进制数据；

在JTAG的状态为捕获数据CAPTURE_DR时，将各器件的数据寄存器连接到TDI和TDO之间；在JTAG的状态为移位数据SHIFT_DR时，在TCK节拍的控制下，通过JTAG的TDO口移位出各器件的数据寄存器中的数据。

在上述方法中，所述第一数据流由N位全0的二进制数据流和N位全1的二进制数据流组成；所述第二数据流为2N位全1的二进制数据流；

或者，

所述第一数据流为2N位全1的二进制数据流；所述第二数据流为由N位全0的二进制数据流和N位全1的二进制数据流组成。

在上述方法中，相应的二进制数据流的位数与相应指令寄存器的宽度相对应，所述二进制数据流的最后一位为1，倒数第二位为0。

在上述方法中，计算出所述JTAG串联链中所有器件的指令寄存器的宽度之和M包括：

比较第一输出序列和第二输出序列，所述第一输出序列和第二输出序列中相同的M位为所述JTAG串联链所有器件的指令寄存器的宽度之和。

在上述方法中，根据所述第一输出序列，第二输出序列和所述计算出的所述JTAG串联链中所有器件的指令寄存器的宽度之和M，计算出各个器件的指令寄存器的宽度包括：