[发明专利]联合测试行为组织串联链中器件的测试方法

权利要求书

1.一种联合测试行为组织串联链中器件的测试方法，其特征在于，该方法包括：

(1)重置联合测试行为组织JTAG串联链及串联链中各器件的数据寄存器和指令寄存器中的数据；

(2)在JTAG的状态为移位指令SHIFT_IR时，在测试时钟TCK节拍的控制下，通过JTAG串联链的测试数据输入TDI口，输入长度为2N的第一数据流，同时通过JTAG串联链的测试数据输出TDO口移位出各指令寄存器中的二进制数据流，得到第一输出序列；

(3)重置JTAG串联链及串联链中各器件的数据寄存器和指令寄存器中的数据，在JTAG的状态为移位指令SHIFT_IR时，在TCK节拍的控制下，通过JTAG串联链的TDI口，输入长度为2N的第二数据流，同时通过JTAG串联链的TDO口移位出各指令寄存器中的二进制数据流，得到第二输出序列；

(4)根据所述第一输出序列和第二输出序列，计算出所述JTAG串联链中所有器件的指令寄存器的宽度之和M；

(5)根据所述第一输出序列，第二输出序列和所述计算出的所述JTAG串联链中所有器件的指令寄存器的宽度之和M，计算出各个器件的指令寄存器的宽度；

(6)通过输入M位特定的二进制数据流，选中目标器件，其中，在所述M位特定的二进制数据流中，与选中的目标器件的位置对应的字段为与选择唯一标识指令相对应的二进制数据；

(7)在JTAG的状态为捕获数据CAPTURE_DR时，将各器件的数据寄存器连接到TDI和TDO之间；在JTAG的状态为移位数据SHIFT_DR时，在TCK节拍的控制下，通过JTAG的TDO口移位出各器件的数据寄存器中的数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述第一数据流由N位全0的二进制数据流和N位全1的二进制数据流组成；所述第二数据流为2N位全1的二进制数据流；

或者，

所述第一数据流为2N位全1的二进制数据流；所述第二数据流为由N位全0的二进制数据流和N位全1的二进制数据流组成。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，相应的二进制数据流的位数与相应指令寄存器的宽度相对应，所述二进制数据流的最后一位为1，倒数第二位为0。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，计算出所述JTAG串联链中所有器件的指令寄存器的宽度之和M包括：

比较第一输出序列和第二输出序列，所述第一输出序列和第二输出序列中相同的M位为所述JTAG串联链所有器件的指令寄存器的宽度之和。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一输出序列，第二输出序列和所述计算出的所述JTAG串联链中所有器件的指令寄存器的宽度之和M，计算出各个器件的指令寄存器的宽度包括：

取出第一输出序列和第二输出序列中相同的M位二进制数据流，根据指定的开头划分为i组，判断i和JTAG串联链中器件的个数是否一致，在一致的情况下，将每组二进制数据流的位数作为所对应器件的指令寄存器宽度。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将各器件的数据寄存器连接到TDI和TDO之间包括：

将选中的目标器件的唯一标识寄存器ID，以及其他器件的旁路Bypass寄存器连接到TDI和TDO之间。