[发明专利]液晶阵列基板及液晶阵列基板测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种基板，特别涉及一种液晶阵列基板及液晶阵列基板测试方法。

背景技术

目前，液晶电视、液晶显示器等液晶电子装置越来越普遍。一般的液晶电子装置均具有多角度的显示模式，在多角度的显示模式下，由于在不同视角西观察到的液晶分子的指向不同，会导致大视角下观察到的颜色失真。目前，为了改善大视角的颜色失身，在液晶分子像素设计时，会将一个像素分为两个部分，一部分为主(main)区，另一部分为子(sub)区。通过控制该两个区的电压来改善大视角失真。其中，该分为主区以及子区的设计一般称为LCS(Low Color Shift，低色彩偏移)设计。

相应地，为了保证液晶电子装置的质量，对其制造过程中的检测是必不可少的。为提高良率和降低成本，在液晶阵列基板制造完成后，会对其进行电性测试，而对于有LCS设计的像素，常规手法很难检测出主区以及子区的像素短路即不合格，而容易导致面板降等甚至报废。

发明内容

本发明提供一种液晶阵列基板及液晶阵列基板测试方法，能够较易地检测该液晶阵列基板是否合格。

一种液晶阵列基板，包括多个像素区域，该像素区域包括主区、子区以及一调控TFT晶体管，该调控TFT晶体管用于调控主区与子区的电压比而实现低色彩偏移，其中，主区包括第一TFT晶体管以及主区阵列电路公共电极走线，子区包括第二TFT晶体管以及子区阵列电路公共电极走线，其中，该主区阵列电路公共电极走线以及子区阵列电路公共电极走线相互电隔离；其中，第一TFT晶体管的栅极与第一扫描线连接，源极与数据线连接，漏极与像素电极连接且与主区阵列电路公共电极走线耦接，第二TFT晶体管的栅极与第一扫描线连接，源极与数据线连接，漏极与像素电极连接且与子区阵列电路公共电极走线耦接；该调控TFT晶体管的源极与该第二TFT晶体管的漏极电连接，漏极与第一TFT晶体管的漏极耦接，该调控TFT晶体管的栅极与第二扫描线连接。

其中，该液晶阵列基板的所有像素区域中的主区阵列电路公共电极走线均与一主区导电片连接，所有像素区域中的子区阵列电路公共电极走线均与一子区导电片连接。

其中，该第一扫描线用于产生开启或关闭信号控制该第一TFT晶体管导通或关闭，该数据线用于在第一TFT晶体管导通时输入数据驱动信号，而控制主区的显示。

其中，该第一扫描线用于产生开启或关闭信号控制该第二TFT晶体管导通或关闭，该数据线用于在第二TFT晶体管导通时输入数据驱动信号，而控制子区的显示。

一种液晶阵列基板的测试方法，包括步骤：通过扫描线输入关闭信号控制像素区域的第一TFT晶体管以及第二TFT晶体管处于关闭状态；对主区导电片施加第一电压以及对子区导电片施加第二电压；其中，该主区导电片与所有像素区域的主区阵列电路公共电极走线电连接，该子区导电片与所有像素区域的子区阵列电路公共电极走线电连接，其中该主区阵列电路公共电极走线与子区阵列电路公共电极走线相互电隔离；侦测像素区域的主区以及子区的电压是否相同；如果有，则判定主区以及子区存在短路。

其中，该方法还包括步骤：如果像素区域的主区以及子区的电压不相同，则判定主区以及子区不存在短路。

其中，该步骤“对主区导电片施加第一电压以及对子区导电片施加第二电压”包括：对主区导电片施加高电位以及对子区导电片施加零电位。

其中，该步骤“对主区导电片施加第一电压以及对子区导电片施加第二电压”包括：对主区导电片施加零电位以及对子区导电片施加高电位。

其中，该方法还包括：对液晶阵列基板存在短路的像素区域进行维修。

本发明的液晶阵列基板及液晶阵列基板测试方法，通过将主区阵列电路公共电极走线以及子区阵列电路公共电极走线相互电隔离，能够较易地检测出该液晶阵列基板是否合格。

附图说明

图1是本发明一实施方式中的液晶阵列基板的示意图。

图2是本发明一实施方式中的液晶阵列基板中的一个像素区域的具体示意图。

图3是本发明一实施方式中的液晶阵列基板的检测方法的流程图。

具体实施方式