[发明专利]液晶阵列基板及液晶阵列基板测试方法

权利要求书

1.一种液晶阵列基板，包括多个像素区域，每一像素区域包括主区、子区以及一调控TFT晶体管，该调控TFT晶体管用于调控主区与子区的电压比而实现低色彩偏移，其特征在于：

主区包括第一TFT晶体管以及主区阵列电路公共电极走线，子区包括第二TFT晶体管以及子区阵列电路公共电极走线，其中，该主区阵列电路公共电极走线以及子区阵列电路公共电极走线相互电隔离；其中，该第一TFT晶体管的栅极与第一扫描线连接，源极与数据线连接，漏极与像素电极连接且与主区阵列电路公共电极走线耦接；该第二TFT晶体管的栅极与第一扫描线连接，源极与数据线连接，漏极与像素电极连接且与子区阵列电路公共电极走线耦接；该调控TFT晶体管的源极与该第二TFT晶体管的漏极电连接，漏极与第一TFT晶体管的漏极耦接，该调控TFT晶体管的栅极与第二扫描线连接。

2.如权利要求1所述的液晶阵列基板，其特征在于，该液晶阵列基板的所有像素区域中的主区阵列电路公共电极走线均与一主区导电片连接，所有像素区域中的子区阵列电路公共电极走线均与一子区导电片连接。

3.如权利要求1或2所述的液晶阵列基板，其特征在于，该第一扫描线用于产生开启或关闭信号控制该第一TFT晶体管导通或关闭，该数据线用于在第一TFT晶体管导通时输入数据驱动信号，而控制主区的显示。

4.如权利要求3所述的液晶阵列基板，其特征在于，该第一扫描线用于产生开启或关闭信号控制该第二TFT晶体管导通或关闭。

5.如权利要求4所述的液晶阵列基板，其特征在于，该数据线用于在第二TFT晶体管导通时输入数据驱动信号，而控制子区的显示。

6.一种液晶阵列基板的测试方法，包括步骤：

通过扫描线输入关闭信号控制像素区域的第一TFT晶体管以及第二TFT晶体管处于关闭状态；

对主区导电片施加第一电压以及对子区导电片施加第二电压；其中，该主区导电片与所有像素区域的主区阵列电路公共电极走线电连接，该子区导电片与所有像素区域的子区阵列电路公共电极走线电连接，其中该主区阵列电路公共电极走线与子区阵列电路公共电极走线相互电隔离；

侦测像素区域的主区以及子区的电压是否相同；

如果相同，则判定主区以及子区存在短路。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，还包括步骤：

如果像素区域的主区以及子区的电压不相同，则判定主区以及子区不存在短路。

8.如权利要求6所述的方法，其特征在于，该步骤“对主区导电片施加第一电压以及对子区导电片施加第二电压”包括：

对主区导电片施加高电位以及对子区导电片施加零电位。

9.如权利要求6所述的方法，其特征在于，该步骤“对主区导电片施加第一电压以及对子区导电片施加第二电压”包括：

对主区导电片施加零电位以及对子区导电片施加高电位。

10.如权利要求6所述的方法，其特征在于，该方法还包括：

对液晶阵列基板存在短路的像素区域进行维修。