[发明专利]一种COG测试方法在审

专利信息
申请号: 201310238958.X 申请日: 2013-06-17
公开(公告)号: CN104238152A 公开(公告)日: 2014-12-24
发明(设计)人: 刘蕊;金亨奎;张浩;时凌云 申请(专利权)人: 北京京东方光电科技有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G01R31/00
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 王黎延;张振伟
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 cog 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种芯片COG的测试方法,其特征在于,该方法包括:

步骤一、在显示面板上设置测试点;

步骤二、外部的测试板通过所述测试点与显示面板上的驱动IC进行通信;

步骤三、在显示面板上显示所述测试板产生的图形。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试点包括:串行外设接口SPI或者集成电路总线I2C接口。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述SPI或者I2C接口包括:数字串行接口SDI、时钟信号线SCL接口、片选线CSB接口。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,所述测试点还包括:VCC接口和GND接口。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,该方法还包括:外部的测试板通过所述VCC接口给所述驱动IC供电。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述测试板对应设有VCC插针、GND插针、SDI插针、SCL插针以及CSB插针。

7.根据权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,所述驱动IC集成有定时器/计数器控制寄存器的功能。

8.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述在显示面板上显示所述测试板产生的图形,包括:

步骤A、测试板对所述驱动IC进行初始化;

步骤B、测试板产生测试用的图形,并通过SPI或者I2C接口传输给所述驱动IC;

步骤C、如果驱动IC和玻璃基板接触良好,则所述测试板产生的图形将显示在显示面板上。

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述测试板上设置有单片机,所述单片机通过所述SPI或者I2C接口与驱动IC进行通信。

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述测试板对所述驱动IC进行初始化,并产生测试用的图形,为:

所述测试板通过所述单片机对所述驱动IC进行初始化,并由所述单片机编译测试所需的图形。

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