[发明专利]信号测试卡及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种信号测试卡及方法，特别是一种I²C信号测试卡及方法。

背景技术

随着电脑信息产业的快速发展及其应用范围的扩大，人们对电脑功能的要求不断提升，电脑内部通常需增设多种功能的硬件，而扩充卡是最常见的提升电脑功能的装置。一般的电脑系统通常装设不同功能的扩充卡，如图形加速显示卡、视讯卡、网卡及声卡等，因此在电路板的设计过程中，对应扩充卡预留有若干插槽，以方便用户使用。在设计研发阶段，设计人员需要验证所述插槽与所述主控芯片之间I²C（Inter-Integrated Circuit）总线的信号传输是否正常。将扩充卡插设在对应的插槽，插槽外需焊接有一焊点与一示波器连接，以观察信号传输是否正常，这种方式，不仅需要花费额外的成本购买扩充卡，另外，还需要在插槽外焊接焊点，操作步骤繁琐，效率较低。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种成本低廉、测试效率高的信号测试卡及方法。

一种信号测试卡，用于测试一电子装置中的主控芯片与一插槽之间的I²C总线信号传输，所述信号测试卡包括有从属芯片、连接模块及地址设置模块；所述连接模块插设在所述插槽内，用于连接所述插槽与所述从属芯片；所述地址设置模块连接所述从属芯片，用于设置所述从属芯片的地址与所述插槽的地址匹配；所述从属芯片通过与所述主控芯片通信获得信号传输数据，并通过一显示模块显示I²C总线信号传输数据。

一实施方式中，所述从属芯片包括有串行数据信号输入输出端及串行时钟信号输入端，所述串行时钟信号输入端经由第一电阻连接所述连接模块，所述串行数据信号输入输出端经由第二电阻连接所述连接模块。

一实施方式中，所述地址设置模块包括有第一开关、第二开关及第三开关，所述第一开关、所述第二开关及所述第三开关并联，且并联电路一端经由第三电阻连接一电压及所述从属芯片，另一端经由第四电阻接地。

一实施方式中，所述从属芯片包括有三地址端，所述第一开关、所述第二开关及所述第三开关分别连接所述三地址端。

一实施方式中，所述连接模块为一金手指。

一种信号测试方法，所述方法包括以下步骤：

连接模块插设至一插槽，以连接所述插槽与一从属芯片；

设置所述从属芯片的地址，以匹配所述从属芯片与所述插槽的地址；

建立所述主控芯片与所述从属芯片的通信，获得所述主控芯片与所述插槽之间的I²C总线信号传输数据；

显示所述I²C总线信号传输数据。

一实施方式中，所述从属芯片包括有串行数据信号输入输出端及串行时钟信号输入端，所述串行时钟信号输入端经由第一电阻连接所述连接模块，所述串行数据信号输入输出端经由第二电阻连接所述连接模块。

一实施方式中，所述从属芯片包括有三地址端及用于设置所述从属芯片的地址与所述插槽地址匹配的地址设置模块，所述地址设置模块包括有第一开关、第二开关及第三开关，所述第一开关、所述第二开关及所述第三开关并联，且并联电路一端经由第三电阻连接一电压及所述从属芯片，另一端经由第四电阻接地；所述三地址端分别连接所述第一开关、所述第二开关及所述第三开关。

一实施方式中，所述连接模块为一金手指。

一实施方式中，所述建立所述主控芯片与所述从属芯片的通信，获得所述I²C总线信号传输数据包括有以下步骤：

所述主控芯片发送请求信号至所述从属芯片；

所述从属芯片经由所述串行数据信号输入输出端及所述时钟信号输入端接收到所述请求信号，发送一反馈信号至所述主控芯片。

与现有技术相比，所述信号测试卡及方法中，通过所述连接模块插设在插槽内，所述从属芯片代替所述扩充卡与所述主控芯片的通信，并在通信过程中通过所述显示模块显示I²C总线传输状态，无需购买扩充卡及焊接连接插槽的焊点，提高效率，节约成本。

附图说明

下面参照附图结合实施例对本发明做进一步的描述。

图1是本发明信号测试卡运用于一电子装置较佳实施方式的一方块图。

图2是本发明信号测试卡较佳实施方式的一电路图。

图3是本发明信号测试方法较佳实施方式的一流程图。

图4是图3中步骤S03的流程图。

主要元件符号说明