[发明专利]信号测试卡及方法

权利要求书

1.一种信号测试卡，用于测试一电子装置中的主控芯片与一插槽之间的I²C总线信号传输，其特征在于：所述信号测试卡包括有从属芯片、连接模块及地址设置模块；所述连接模块插设在所述插槽内，用于连接所述插槽与所述从属芯片；所述地址设置模块连接所述从属芯片，用于设置所述从属芯片的地址与所述插槽的地址匹配；所述从属芯片通过与所述主控芯片通信获得信号传输数据，并通过一显示模块显示I²C总线信号传输数据。

2.如权利要求1所述的信号测试卡，其特征在于：所述从属芯片包括有串行数据信号输入输出端及串行时钟信号输入端，所述串行时钟信号输入端经由第一电阻连接所述连接模块，所述串行数据信号输入输出端经由第二电阻连接所述连接模块。

3.如权利要求1所述的信号测试卡，其特征在于：所述地址设置模块包括有第一开关、第二开关及第三开关，所述第一开关、所述第二开关及所述第三开关并联，且并联电路一端经由第三电阻连接一电压及所述从属芯片，另一端经由第四电阻接地。

4.如权利要求3所述的信号测试卡，其特征在于：所述从属芯片包括有三地址端，所述第一开关、所述第二开关及所述第三开关分别连接所述三地址端。

5.如权利要求1所述的信号测试卡，其特征在于：所述连接模块为一金手指。

6.一种信号测试方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：

连接模块插设至一插槽，以连接所述插槽与一从属芯片；

设置所述从属芯片的地址，以匹配所述从属芯片与所述插槽的地址；

建立所述主控芯片与所述从属芯片的通信，获得所述主控芯片与所述插槽之间的I²C总线信号传输数据；

显示所述I²C总线信号传输数据。

7.如权利要求6所述的信号测试方法，其特征在于：所述从属芯片包括有串行数据信号输入输出端及串行时钟信号输入端，所述串行时钟信号输入端经由第一电阻连接所述连接模块，所述串行数据信号输入输出端经由第二电阻连接所述连接模块。

8.如权利要求6所述的信号测试方法，其特征在于：所述从属芯片包括有三地址端及用于设置所述从属芯片的地址与所述插槽地址匹配的地址设置模块，所述地址设置模块包括有第一开关、第二开关及第三开关，所述第一开关、所述第二开关及所述第三开关并联，且并联电路一端经由第三电阻连接一电压及所述从属芯片，另一端经由第四电阻接地；所述三地址端分别连接所述第一开关、所述第二开关及所述第三开关。

9.如权利要求6所述的信号测试方法，其特征在于：所述连接模块为一金手指。

10.如权利要求7所述的信号测试方法，其特征在于：所述建立所述主控芯片与所述从属芯片的通信，获得所述I²C总线信号传输数据包括有以下步骤：

所述主控芯片发送请求信号至所述从属芯片；

所述从属芯片经由所述串行数据信号输入输出端及所述时钟信号输入端接收到所述请求信号，发送一反馈信号至所述主控芯片。