[发明专利]一种硅质聚渣剂的X荧光光谱分析法无效
| 申请号： | 201310232564.3 | 申请日： | 2013-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN103278520A | 公开（公告）日： | 2013-09-04 |
| 发明（设计）人： | 李奎;王丽晖;张道光 | 申请（专利权）人： | 鞍钢股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N1/28 |
| 代理公司： | 鞍山华惠专利事务所 21213 | 代理人： | 赵长芳 |
| 地址： | 114021 *** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 硅质聚渣剂 荧光 光谱分析 | ||
【权利要求书】：
1.一种硅质聚渣剂的X荧光光谱分析法，其特征在于，具体分析方法和步骤为：
样片制备：
（1）、称取6.0000g四硼酸锂、0.1000g氟化锂试剂于洁净的铂金锅内，加入0.2000g试样，搅拌，加入5滴饱和硝酸钾溶液和5滴40%的碘化钾溶液；
（2）、将盛装试样的铂金锅放入熔融炉内，在1145-1155℃下熔融14-16min；
（3）、取下铂金锅，冷却至室温；
标准曲线绘制：
（1）、选取10个二氧化硅含量在60-85wt%范围内且具有一定梯度的国家标准样品作为分析样；
（2）、按照“样片制备”的三个步骤将10个国家标准样品熔融成玻璃样品；
（3）、设定X荧光光谱仪分析参数：
a、X光管电压40kV，电流70mA；
b、元素分析时间19-22s；
c、PHA Low Level:15，PHA High Level:130；
d、Spectrometer： Crystal PET；
（4）、将熔融完成的10个国家标准样品的样片，用设定完成的X荧光光谱仪依次测定待测元素的强度，并绘制出强度—浓度曲线，计算出回归系数，且保证回归系数不小于0.999；
分析测定：
将熔融完成并冷却的试样放于X荧光光谱仪分析位置，用X荧光光谱仪分析待测元素的强度，并通过待测元素的强度在标准曲线上计算出元素的百分含量。
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