[发明专利]电子设备功耗的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种电子设备功耗的测试方法，具体涉及一种PDA、MOBILE PHONE等电子产品功耗的测试方法。

背景技术

PDA、MOBILE PHONE等电子产品都会涉及到功耗分析，传统的测试是在各个电源回路加入测量电阻，这个只能应用在产品开发阶段，真正的产品受布板、走线影响，是不能够加入电阻的，所以需要一种不改变PCB器件、布局情况下功耗测试的方法。

如图1所示，PDA、MOBILE PHONE等电子产品的系统供电的简图，其可以归结为包括一系统供电电源（2.9～4.2V，图中为3.8V）和一电压转换芯片（电压转换芯片为分立的DCDC、LDO，或集成DCDC、LDO的power management unit（电源管理单元），简称PMU或PMIC），所述电压转换芯片将所述系统供电电源转换为一路或以上DCDC输出电源和/或一路或以上LDO输出电源，通常DCDC输出电源包括至少一VDD电源（电压低于2.0V，图中为1.0V）和/或至少一的VCCDR电源（电压低于2.0V，图中为1.8V），LDO输出电源通常为3.0V左右的VCCIO电源。图中，i1、i2、i3、i4表示相应供电回路上的电流；R1、R2、R3、R4为测试前预留在相应供电回路上的0.1Ω的电阻，dot2，dot3、dot4为各回路的测试点。

在分析PDA、MOBILE PHONE等电子产品的功耗时，被测回路上可能没有预留0.1Ω的电流测试电阻，造成功耗测试无法顺利进行。

发明内容

本发明要解决的技术问题，在于提供一种电子设备功耗的测试方法，实际操作简单方便，且可测试结果较精确。

本发明是这样实现的：一种电子设备功耗的测试方法，所述电子设备包括一系统供电电源和一电压转换芯片，所述电压转换芯片将所述系统供电电源转换为至少一路DCDC输出电源和/或至少一路LDO输出电源，其中：所述测试方法是在DCDC输出供电回路或LDO输出供电回路上外加一个外部电源，该外部电源的电压高于所述DCDC输出电源的电压或LDO输出电源的电压，从而使该DCDC输出电源或LDO输出电源阻断，此时该DCDC输出供电回路或LDO输出供电回路由所述外部电源提供，形成外部电源供电回路；则所述外部电源加入的前、后所述系统供电电源端的耗电差值，即为该DCDC、LDO输出供电回路在系统供电电源端的耗电，而所述外部电源供电回路上的耗电，即为该DCDC输出供电回路或LDO输出供电回路上的耗电。

进一步的，当测试处于系统待机状态的电子设备功耗时，所述外部电源的电压的取值为：比被测回路上的DCDC输出电源电压或LDO输出电源电压大0.02～0.05V；当测试处于系统运行状态的电子设备功耗时，所述外部电源的电压的取值为：以足够切断被测回路上的DCDC输出电源或LDO输出电源为准，但不得超出该被测回路的承受范围。当测试处于系统运行状态的电子设备功耗时，在实际操作中，所述外部电源的电压要在该被测回路上的DCDC输出电源电压或LDO输出电源电压的电压值的基础上慢慢增加，同时避免超过该被测回路的承受范围，直至满足在外部电源端的电流值不再降低为止。

进一步的，所述外部电源加入的前、后所述系统供电电源端的耗电差值的具体获得方法是：先后直接测量出所述外部电源加入的前、后所述系统供电电源端的电流值，然后计算出该两个电流值的差值，再换算成功耗即可；所述外部电源供电回路上的耗电具体获得方法是：直接测量出所述外部电源供电回路上的电流值，然后换算成功耗即可。

本发明具有如下优点：本发明是根据DCDC、LDO的原理，在其输出电压确定后，反馈回路会检查实际的输出电压情况，如果电压偏低，DCDC、LDO相应的供电回路会开启，开始对DCDC、LDO输出回路供电并使输出电压相应抬高；如果电压偏高，DCDC、LDO系统会关闭供电回路，此时电压相应降低。因此利用外加电压法来测量各个供电输出回路上的耗电，使外部电源的电压高于DCDC输出电源的电压或LDO输出电源的电压，从而使该DCDC输出电源或LDO输出电源阻断，此时该DCDC输出供电回路或LDO输出供电回路由所述外部电源提供，形成外部电源供电回路；则所述外部电源加入的前、后所述系统供电电源端的耗电差值，即为该DCDC、LDO输出供电回路在电源端的耗电，而所述外部电源供电回路上的耗电，即为该DCDC输出供电回路或LDO输出供电回路上的耗电。本发明方法实际操作简单方便，且可测试结果较精确。

附图说明

下面参照附图结合实施例对本发明作进一步的说明。

图1为现有电子产品的系统供电简图。