[发明专利]电子设备功耗的测试方法无效

专利信息
申请号: 201310231777.4 申请日: 2013-06-09
公开(公告)号: CN103323712A 公开(公告)日: 2013-09-25
发明(设计)人: 谢修鑫;许盛飞;宋秀杰 申请(专利权)人: 福州瑞芯微电子有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 代理人: 宋连梅
地址: 350000 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 电子设备 功耗 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种电子设备功耗的测试方法,所述电子设备包括一系统供电电源和一电压转换芯片,所述电压转换芯片将所述系统供电电源转换为至少一路DCDC输出电源和/或至少一路LDO输出电源,其特征在于:所述测试方法是在DCDC输出供电回路或LDO输出供电回路上外加一个外部电源,该外部电源的电压高于所述DCDC输出电源的电压或LDO输出电源的电压,从而使该DCDC输出电源或LDO输出电源阻断,此时该DCDC输出供电回路或LDO输出供电回路由所述外部电源提供,形成外部电源供电回路;则所述外部电源加入的前、后所述系统供电电源端的耗电差值,即为该DCDC、LDO输出供电回路在系统供电电源端的耗电,而所述外部电源供电回路上的耗电,即为该DCDC输出供电回路或LDO输出供电回路上的耗电。

2.根据权利要求1所述的电子设备功耗的测试方法,其特征在于:

当测试处于系统待机状态的电子设备功耗时,所述外部电源的电压的取值为:比被测回路上的DCDC输出电源电压或LDO输出电源电压大0.02~0.05V;

当测试处于系统运行状态的电子设备功耗时,所述外部电源的电压的取值为:以足够切断被测回路上的DCDC输出电源或LDO输出电源为准,但不得超出该被测回路的承受范围。

3.根据权利要求2所述的电子设备功耗的测试方法,其特征在于:当测试处于系统运行状态的电子设备功耗时,在实际操作中,所述外部电源的电压要在该被测回路上的DCDC输出电源电压或LDO输出电源电压的电压值的基础上慢慢增加,同时避免超过该被测回路的承受范围,直至满足在外部电源端的电流值不再降低为止。

4.根据权利要求1所述的电子设备功耗的测试方法,其特征在于:

所述外部电源加入的前、后所述系统供电电源端的耗电差值的具体获得方法是:先后直接测量出所述外部电源加入的前、后所述系统供电电源端的电流值,然后计算出该两个电流值的差值,再换算成功耗即可;

所述外部电源供电回路上的耗电具体获得方法是:直接测量出所述外部电源供电回路上的电流值,然后换算成功耗即可。

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