[发明专利]一种薄膜覆盖正面电极的硅太阳能电池及其制造工艺有效
申请号: | 201310218746.5 | 申请日: | 2013-06-04 |
公开(公告)号: | CN103337553A | 公开(公告)日: | 2013-10-02 |
发明(设计)人: | 李质磊;路忠林;盛雯婷;张凤鸣 | 申请(专利权)人: | 南京日托光伏科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0216;H01L31/068 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 柏尚春 |
地址: | 210000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 薄膜 覆盖 正面 电极 太阳能电池 及其 制造 工艺 | ||
技术领域
本发明涉及一种薄膜覆盖正面电极的硅太阳能电池及其制造工艺,属于太阳能电池领域。
背景技术
现有的太阳能电池制备技术均是采用先镀膜后印刷的工艺路线,此工艺路线,对硅太阳能电池正面银浆提出很高的技术要求,要求其不但能快速穿透氮化硅薄膜,而且能和硅衬底形成良好的欧姆接触;同时对硅的穿透力要严格控制,避免形成漏电,这一要求,导致硅太阳能正面银浆技术一直被杜邦等国外公司所垄断。如何突破硅太阳能正面银浆技术,成为业内主攻的方向,本发明专利另辟幽径,通过调整工艺路线,成功的降低了硅太阳能电池正面银浆的技术门槛,以下以晶体硅常规太阳能电池为例对本发明进行阐述。常规太阳能电池的主要制备工艺步骤如下:
步骤一、制绒:对硅片进行腐蚀,织构化。
步骤二、扩散:对制绒后的硅片进行扩散,制备PN结。
步骤三、刻蚀:刻蚀扩散后硅片的四周,防止漏电。
步骤四、去PSG:去除硅片表面的PSG。
步骤五、镀减反射膜。
步骤六、制备背面电极,然后烘干。
步骤七、制备背面电场,然后烘干。
步骤八、制备正面电极,然后烘干。
步骤八、烧结。
步骤九、测试分选。
测试分选后,按照不同档位及品质包装入库。
在现有的制备晶体硅太阳能电池时。先对硅片镀减反射膜,然后再进行印刷正面电极和烧结,这种工艺存在如下缺点:
1.正面电极银浆要有良好的穿透性,可以顺利穿透氮化硅薄膜。
2.银浆和硅表面接触时,受到氮化硅薄膜阻挡,接触面积减少,导致串联电阻变大,影响电池转换效率。
3.银浆和硅形成欧姆接触时,要具有较低的穿透力,否则会造成漏电,这和顺利穿透氮化硅薄膜形成了矛盾.
4.电极裸漏在薄膜表面,容易被腐蚀和氧化。
发明内容
发明目的:本发明提出一种薄膜覆盖正面电极的硅太阳能电池制造工艺,该工艺中正面电极银浆具有更好的穿透性,其与硅表面的接触电阻更小,提高了电池转换效率,同时正面电极在减反射膜的覆盖下不易被腐蚀氧化。
技术方案:本发明采用的技术方案为一种薄膜覆盖MWT太阳能电池制造工艺,包括以下步骤:
1)选取具有第一导电类型的硅片,经过在硅片预定位置开设通孔、以及制绒、扩散、通孔背结保护和刻蚀工艺后形成具有通孔的电池衬底;
2)去除所述电池衬底表面的PSG;
3)向该电池衬底上所述通孔内填充浆料,并制备背面电极,然后烘干;
4)制备背面背场,然后烘干;
5)制备电池正面电极,然后烘干;
6)在步骤4)所形成的电池衬底上表面镀减反射膜,该减反射膜完全覆盖正面电极;
7)经烧结后测试分选。
所述步骤9)中所述减反射膜为氮化硅膜。所述步骤5)中利用丝网印刷技术制备正面电极。所述第一导电类型为P型。
一种薄膜覆盖MWT结构SE太阳能电池制造工艺,包括以下步骤:
1)选取具有第一导电类型的硅片,经过在硅片预定位置开设通孔、以及制绒、扩散、通孔背结保护、刻蚀工艺形成具有通孔的电池衬底;
2)在所述电池衬底表面打印掩膜,将电极下方需要重掺杂区域遮蔽起来;
3)刻蚀所述带有掩膜的电池衬底,去除硅片周围多余的PN结;
4)去除所述电池衬底表面的PSG,对未被石蜡掩膜遮蔽的区域进行刨结处理,处理完毕后去除石蜡掩膜;
5)向该电池衬底上所述通孔内填充浆料,并制备背面电极,然后烘干;
6)制备背面背场,然后烘干;
7)制备电池的正面电极,然后烘干;
8)在步骤7)所形成的电池衬底上表面镀减反射膜,该减反射膜完全覆盖正面电极;
9)经烧结后测试分选。
作为该薄膜覆盖MWT结构SE太阳能电池制造工艺的进一步改进,所述减反射膜为氮化硅膜。所述第一导电类型为P型。所述步骤5)采用喷墨打印制作电池的正面电极。
一种薄膜覆盖MWT太阳能电池,包括减反射膜和正面电极,该电池正面的减反射膜完全覆盖正面电极。所述减反射膜为氮化硅膜。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京日托光伏科技有限公司,未经南京日托光伏科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310218746.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的