[发明专利]一种PLC平面波导光分路器自动测量装置有效

专利信息
申请号: 201310211104.2 申请日: 2013-05-31
公开(公告)号: CN103326773A 公开(公告)日: 2013-09-25
发明(设计)人: 顾国林;乐志强 申请(专利权)人: 上海霍普光通信有限公司
主分类号: H04B10/07 分类号: H04B10/07
代理公司: 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 代理人: 吕伴
地址: 200135 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 plc 平面 波导 分路 自动 测量 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及光信号的分路器件,具体涉及一种可灵活组合型PLC平面波导光分路器的自动测量装置。

背景技术

PLC平面波导光分路器(PLC Splitter)是一种基于石英基板的集成波导光功率分配器件,与同轴电缆传输系统一样,光网络系统也需要将光信号进行耦合、分支、分配,这就需要光分路器来实现。是光纤链路中最重要的无源器件之一,是具有多个输入端和多个输出端的光纤汇接器件,特别适用于无源光网络(EPON,GPON,BPON等)中连接局端和终端设备并实现光信号的分路。

随着运营商对FTTx光接入网的大规模部署,各大运营商纷纷选择光无源网络(PON)及相关技术作为光纤接入方案,平面波导型(PLC)光分路器作为其中的必备的光无源器件也得到了越来越广泛的应用。

随着器件材料和封装技术不断提高,与传统的熔融拉锥型分路器相比,PLC型平面波导光分路器不仅在技术指标上,而且在生产成本和规模上,都越来越体现出它的优势。

传统的PLC型光分路器的测量方法参见图1,这是一种单个通道、单项指标、单个波长逐次测量方法。

测量步骤为先对相应波长的光信号源(例如:1310nm、1550nm或1490nm的光源)校零,后将待测PLC型平面波导光分路器(DUT)接入如图所示光路中,对逐个通道分别测量其插入损耗(简称IL)、偏振相关损耗(简称PDL)、回波损耗(简称RL),然后更换其它波长的光信号源再重复上述测量过程。这种测试方法的缺点就是测量时间长、测量效率极低、灵活性差。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种PLC平面波导光分路器自动测量装置,操作过程简单、测试效率高、可灵活组合,实现多个通道多项指标多个波长的一次性自动测量。

为达到上述目的,本发明的技术方案如下:

一种PLC平面波导光分路器自动测量装置,包括:

一检测信号产生模块,提供一光信号,

一光功率检测模块,光信号通过待测器件后进入光功率检测模块,所述光功率检测模块测试光信号的功率值,

一控制显示模块,控制显示模块记录光信号的光功率基准值,并通过计算自动测量和显示光信号的光功率实际测量值,且控制其它各功能模块的工作,读取、计算、存贮和显示各功能模块的工作状态和相关参数,并实现手工操作和与电脑通信的功能。

在本发明的一个优选实施例中,所述检测信号产生模块包括光信号源模块,光功率检测模块包括多通道光功率计模块,用于对光信号的插入损耗一次性测量。

在本发明的一个优选实施例中,所述检测信号产生模块包括光信号源模块和偏振控制器模块,光功率检测模块包括多通道光功率计模块,光信号依次通过偏振控制器模块,待测器件后,进入多通道光功率计模块,控制显示模块用于对光信号的插入损耗和偏振相关损耗的一次性测量。

在本发明的一个优选实施例中,所述检测信号产生模块包括光信号源模块和多波长光信号源模块,光功率检测模块包括多通道光功率计模块,光信号源模块和多波长光信号源模块产生的多个光信号通过待测器件后,进入多通道光功率计模块,控制显示模块用于对多个光信号的波长插入损耗一次性测量。

在本发明的一个优选实施例中,所述检测信号产生模块包括光信号源模块,多波长光信号源模块以及偏振控制器模块,光功率检测模块包括多通道光功率计模块,

光信号源模块和多波长光信号源模块产生的多个光信号通过偏振控制器模块以及待测器件后,进入多通道光功率计模块,控制显示模块用于对光信号的多个通道和多个波长插入损耗和偏振相关损耗的一次性测量。

在本发明的一个优选实施例中,所述检测信号产生模块包括光信号源模块,光功率检测模块包括多通道光功率计模块,还包括一与待测器件分别连接的光终止器模块和1×2光分路器阵列模块,

控制显示模块将测量和显示待测器件的相应待测端的回波损耗值。

在本发明的一个优选实施例中,所述检测信号产生模块包括光信号源模块,光功率检测模块包括多通道光功率计模块,还包括一与待测器件分别连接的光终止器模块和1×2光分路器阵列模块,在所述光信号源与1×2光分路器阵列模块之间设置一多通道选择光开关模块,

控制显示模块将测量和显示待测器件各输出端的回波损耗值。

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