[发明专利]测试装置及测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试装置及测试方法，特别涉及一种可节省设备、人力、及时间的成本并改善测试的效率的测试装置及测试方法。

背景技术

这些年来，随着电子科技的进步，使得印刷电路板坚固耐用、成本低廉且可靠度高。于生产印刷电路板时，虽然一开始需要投入电路布局的成本，但是到后来却可便宜地且快速地大量生产。

在电子元件焊接于印刷电路板之后，印刷电路板需要通过检测，才能出货。实务上，传统的内部电路测试（Insert Circuit Test,ICT）设备主要检查单一个元件以及各电路网络的开、短路情况。亦即，内部电路测试包括电阻、电容、电感、及晶体管等元件的测试，可藉由此内部电路测试而发现例如焊锡短路、元件错置、元件漏装、管脚翘起、元件虚焊、或是印刷电路板短路与断路等故障。但是，对于印刷电路板的次模块（Sub-Assembly,SA）功能测试却不能涵盖，例如记忆体程序、运算放大器、电源模块、及小规模的集成电路的功能测试等。

当进行测试验证时，测试人员必须分别于内部电路测试的测试站以及次模块功能测试的测试站进行分别测试，以涵盖各电子元件的测试以及印刷电路板的功能测试。然而，此分开的测试站却造成了设备成本以及人力成本的增加。另一方面，此分开的测试站亦增加了测试所需的时间。

一般而言，应用于现有技术中的测试平台，大多不具有整合内部电路测试以及次模块功能测试的测试接口，导致测试人员无法于同一测试平台进行不同类别的测试验证，造成设备、人力、及时间成本的增加，亦影响了测试的效率。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测试装置及测试方法，藉以节省设备、人力、及时间的成本，并改善测试的效率。

根据本发明的一实施例，提供一种测试装置，用以执行一测试程序，以对一电路板上的多个元件进行一第一测试，以及对电路板进行一第二测试。此测试装置包括一第一模块、一第二模块、及一信号传输线。第一模块包括一控制单元、一信号产生单元、一信号处理单元、一信号扩充单元、及一供电单元。控制单元用以接收一指令，并依据指令，以产生一第一控制信号或一第二控制信号。其特征在于，，指令用以指示测试装置进行第一测试或第二测试。信号产生单元耦接控制单元，用以接收第一控制信号，并依据第一控制信号，以产生一电流信号或一电压信号。信号处理单元耦接控制单元，用以接收电路板所产生的一测量信号，并对测量信号进行一数值计算，以产生一数值信号。信号扩充单元耦接控制单元，用以接收电路板所产生的一第一数据信号，并对第一数据信号进行一信号扩充，以产生一第二数据信号。供电单元耦接控制单元，用以接收第二控制信号，并依据第二控制信号，以产生一工作电压。第二模块包括一测试地址指定单元以及一信号隔离单元。测试地址指定单元耦接电路板，用以对多个元件进行一定址，并依据定址，以回传测量信号给信号处理单元。信号隔离单元耦接测试地址指定单元，用以对测量信号进行一噪声免疫处理。信号传输线耦接于信号产生单元与信号隔离单元之间，用以连接第一模块与第二模块。其特征在于，，当测试装置进行第二测试时，供电单元产生工作电压给信号产生单元、信号处理单元、信号扩充单元、测试地址指定单元、及信号隔离单元。

根据本发明的一实施例，还提供一种测试方法，包括以下步骤。连接一测试工具于一测试装置。配置一电路板于测试工具。启动测试工具的一第一气压缸，以使电路板未接收一工作电压。于测试装置上执行一测试程序，以对电路板上的多个元件进行一第一测试，并记录第一测试且关闭第一气压缸。启动测试工具的一第二气压缸，以使电路板接收工作电压。于测试装置上执行测试程序，以对电路板进行一第二测试，并记录第二测试且关闭第二气压缸。显示第一测试以及第二测试的一测试结果。

本发明所提供的测试装置及测试方法，藉由控制单元接收进行第一测试的指令，并以测试地址指定单元对电路板上的多个元件进行定址，以使信号处理单元接收来自这些元件所回传的测量信号，并对测量信号进行数值计算。或是藉由控制单元接收进行第二测试的指令，并以供电单元产生工作电压，以使信号扩充单元接收电路板所回传的第一数据信号，并对第一数据信号进行信号扩充。如此一来，可有效整合不同类别的测试于同一平台，并节省设备、人力、及时间的成本，亦改善了测试的效率。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1为本发明的测试装置的示意图；

图2为本发明的测试方法的步骤流程图。

其特征在于，，附图标记

10    测试装置

100   第一模块