[发明专利]测试装置及测试方法无效
| 申请号: | 201310192546.7 | 申请日: | 2013-05-22 |
| 公开(公告)号: | CN104181451A | 公开(公告)日: | 2014-12-03 |
| 发明(设计)人: | 陈琏锋;朱俊豪 | 申请(专利权)人: | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R31/02 |
| 代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;常大军 |
| 地址: | 201114 上海市闵*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测试 装置 方法 | ||
1.一种测试装置,用以执行一测试程序,以对一电路板上的多个元件进行一第一测试,以及对该电路板进行一第二测试,其特征在于,该测试装置包括:
一第一模块,包括:
一控制单元,用以接收一指令,并依据该指令,以产生一第一控制信号或一第二控制信号,其特征在于,该指令用以指示该测试装置进行该第一测试或该第二测试;
一信号产生单元,耦接该控制单元,用以接收该第一控制信号,并依据该第一控制信号,以产生一电流信号或一电压信号;
一信号处理单元,耦接该控制单元,用以接收该电路板所产生的一测量信号,并对该测量信号进行一数值计算,以产生一数值信号;
一信号扩充单元,耦接该控制单元,用以接收该电路板所产生的一第一数据信号,并对该第一数据信号进行一信号扩充,以产生一第二数据信号;以及
一供电单元,耦接该控制单元,用以接收该第二控制信号,并依据该第二控制信号,以产生一工作电压;
一第二模块,包括:
一测试地址指定单元,耦接该电路板,用以对该些元件进行一定址,并依据该定址,以回传该测量信号给该信号处理单元;以及
一信号隔离单元,耦接该测试地址指定单元,用以对该测量信号进行一噪声免疫处理;以及
一信号传输线,耦接于该信号产生单元与该信号隔离单元之间,用以连接该第一模块与该第二模块;
其特征在于,,当该测试装置进行该第二测试时,该供电单元产生该工作电压给该信号产生单元、该信号处理单元、该信号扩充单元、该测试地址指定单元、及该信号隔离单元。
2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,该第一测试为内部电路测试,该第二测试为次模块功能测试。
3.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,该信号扩充单元包括一通用输入输出连接端口。
4.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,该第二数据信号为内部集成电路总线信号或序列周边接口信号。
5.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,该信号传输线为尼尔-康塞曼卡口同轴电缆线。
6.一种测试方法,其特征在于,包括:
连接一测试工具于一如权利要求1所述的测试装置;
配置一电路板于该测试工具;
启动该测试工具的一第一气压缸,以使该电路板未接收一工作电压;
于该测试装置上执行一测试程序,以对该电路板上的多个元件进行一第一测试,并记录该第一测试且关闭该第一气压缸;
启动该测试工具的一第二气压缸,以使该电路板接收该工作电压;
于该测试装置上执行该测试程序,以对该电路板进行一第二测试,并记录该第二测试且关闭该第二气压缸;以及
显示该第一测试以及该第二测试的一测试结果。
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