[发明专利]一种数据存储方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及计算机领域，尤其涉及一种数据存储方法及装置。

背景技术

随着计算机技术的不断发展，人们对计算机的处理能力、存储吞吐量以及网络带宽的要求不断提高，但却很容易忽视计算机内存的可用性和可靠性。内存作为计算机的五大部件之一，对计算机工作的稳定性和可靠性起着至关重要的作用，并且随着大数据时代的来临，一些软件所需的内存空间也越来越大，因此从发展趋势上看，计算机操作系统将会支持更大的内存，同时计算机的内存容量也会不断扩大。然而，随着存储元件密度的增加、计算机内存容量的扩大，内存发生错误的几率也将会随之增大。

现有技术中经常采用纠错编码技术来确保内存的可靠性，已有的纠错编码技术包括：错误的检测和纠正(Error Checking and Correcting，ECC)技术、惠普热拔插存储冗余阵列(Redundant Array of IndependentDisks，RAID)内存技术、虚拟化内存纠错(Virtualized ECC，VECC)技术等。在现有技术提供的纠错编码技术中不同技术采用的容错编码类型不同，这就使得不同的纠错编码技术的容错编码强度不同，且其相应的容错开销和容错能力也不同，但每一种纠错编码技术均采用单一的容错编码类型。

众所周知，在计算机系统中不同应用程序的容错能力存在差异，同一个应用程序在不同应用场景下数据出错的概率也千差万别，并且不同用户对不同应用程序的可靠性要求也各不相同。但由于一种纠错编码技术采用单一的容错编码类型，这就使得同一个计算机系统中对不同程序的容错能力全都是相同的，并不能根据不同应用程序对内存可靠性的要求来对内存的容错能力进行调节。因此，如何根据不同应用程序对内存可靠性的需要对容错编码的强度进行调节，已成为本技术领域的重要课题。

发明内容

本发明的实施例提供一种数据存储方法及装置，实现了容错编码强度的动态调节。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

本发明的第一方面，提供一种数据存储方法，包括：

根据数据簇的容错能力和/或所述数据簇的工作场景选取容错编码类型；其中，所述数据簇是指受同一容错强度的容错编码保护的数据集合；

根据所述容错编码类型获取第一数据的校验码；其中，所述第一数据为所述数据簇中的任意一个数据；

通过地址映射逻辑获取校验码存储地址；其中，所述校验码存储地址为存储所述第一数据的校验码的地址；

根据所述第一数据的物理地址将所述第一数据写入存储系统；

根据所述校验码存储地址将所述第一数据的校验码写入所述存储系统。

结合第一方面，在一种可能的实现方式中，在所述根据所述校验码存储地址将所述第一数据的校验码写入所述存储系统之后，当需要从所述存储系统中读取所述第一数据时，还包括：

根据所述第一数据的物理地址从所述存储系统中读取所述第一数据；

根据所述校验码存储地址从所述存储系统中读取所述第一数据的校验码，以便于根据所述第一数据的校验码检测从所述存储系统读取的所述第一数据与写入所述存储系统的所述第一数据是否一致。

结合第一方面和上述可能的实现方式，在另一种可能的实现方式中，所述通过地址映射逻辑获取校验码存储地址，包括：

根据所述容错编码类型获取数据位长与校验码位长之比；

根据所述存储系统中存储所述数据簇的区域的起始地址确定存储所述数据簇对应的校验码集合的区域的起始地址；

根据所述存储所述数据簇的区域的起始地址、所述存储所述数据簇对应的校验码集合的区域的起始地址、所述数据位长与校验码位长之比以及所述第一数据的物理地址，通过地址映射逻辑获取所述校验码存储地址。

结合第一方面和上述可能的实现方式，在另一种可能的实现方式中，在所述通过地址映射逻辑获取校验码存储地址之后，还包括：

根据所述第一数据的物理地址和所述数据位长与校验码位长之比，通过地址映射逻辑获取校验码偏移地址；

所述根据所述校验码存储地址将所述第一数据的校验码写入所述存储系统，包括：

根据所述校验码存储地址和所述校验码偏移地址将所述第一数据的校验码写入所述存储系统。

结合第一方面和上述可能的实现方式，在另一种可能的实现方式中，所述根据所述校验码存储地址从所述存储系统中读取所述第一数据的校验码，包括：

根据所述校验码存储地址和所述校验码偏移地址从所述存储系统中读取所述第一数据的校验码。