[发明专利]一种数据存储方法及装置

权利要求书

1.一种数据存储方法，其特征在于，包括：

根据数据簇的容错能力和/或所述数据簇的工作场景选取容错编码类型；其中，所述数据簇是指受同一容错强度的容错编码保护的数据集合；

根据所述容错编码类型获取第一数据的校验码；其中，所述第一数据为所述数据簇中的任意一个数据；

通过地址映射逻辑获取校验码存储地址；其中，所述校验码存储地址为存储所述第一数据的校验码的地址；

根据所述第一数据的物理地址将所述第一数据写入存储系统；

根据所述校验码存储地址将所述第一数据的校验码写入所述存储系统。

2.根据权利要求1所述的数据存储方法，其特征在于，在所述根据所述校验码存储地址将所述第一数据的校验码写入所述存储系统之后，当需要从所述存储系统中读取所述第一数据时，还包括：

根据所述第一数据的物理地址从所述存储系统中读取所述第一数据；

根据所述校验码存储地址从所述存储系统中读取所述第一数据的校验码，以便于根据所述第一数据的校验码检测从所述存储系统读取的所述第一数据与写入所述存储系统的所述第一数据是否一致。

3.根据权利要求1或2所述的数据存储方法，其特征在于，所述通过地址映射逻辑获取校验码存储地址，包括：

根据所述容错编码类型获取数据位长与校验码位长之比；

根据所述存储系统中存储所述数据簇的区域的起始地址确定存储所述数据簇对应的校验码集合的区域的起始地址；

根据所述存储所述数据簇的区域的起始地址、所述存储所述数据簇对应的校验码集合的区域的起始地址、所述数据位长与校验码位长之比以及所述第一数据的物理地址，通过地址映射逻辑获取所述校验码存储地址。

4.根据权利要求3所述的数据存储方法，其特征在于，在所述通过地址映射逻辑获取校验码存储地址之后，还包括：

根据所述第一数据的物理地址和所述数据位长与校验码位长之比，通过地址映射逻辑获取校验码偏移地址；

所述根据所述校验码存储地址将所述第一数据的校验码写入所述存储系统，包括：

根据所述校验码存储地址和所述校验码偏移地址将所述第一数据的校验码写入所述存储系统。

5.根据权利要求4所述的数据存储方法，其特征在于，所述根据所述校验码存储地址从所述存储系统中读取所述第一数据的校验码，包括：

根据所述校验码存储地址和所述校验码偏移地址从所述存储系统中读取所述第一数据的校验码。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的数据存储方法，其特征在于，所述容错编码类型包括但不限于以下任意一种：纠一位错检两位错SEC-DED码、单半字节纠错-单字节检错SNC-DND码、理德-所罗门RS码、纠多位错二元循环BCH码。

7.一种数据存储装置，其特征在于，包括：

选取单元，用于根据数据簇的容错能力和/或所述数据簇的工作场景选取容错编码类型；其中，所述数据簇是指受同一容错强度的容错编码保护的数据集合；

第一获取单元，用于根据所述选取单元得到的所述容错编码类型获取第一数据的校验码；其中，所述第一数据为所述数据簇中的任意一个数据；

第二获取单元，用于通过地址映射逻辑获取校验码存储地址；其中，所述校验码存储地址为存储所述第一数据的校验码的地址；

写入单元，用于根据所述第一数据的物理地址将所述第一数据写入存储系统，并根据所述第二获取单元得到的所述校验码存储地址将所述第一数据的校验码写入所述存储系统。

8.根据权利要求7所述的数据存储装置，其特征在于，当需要从所述存储系统中读取所述第一数据时，还包括：

读取单元，用于在所述写入单元根据所述校验码存储地址将所述第一数据的校验码写入所述存储系统之后，根据所述第一数据的物理地址从所述存储系统中读取所述第一数据，并根据所述第二获取单元得到的所述校验码存储地址从所述存储系统中读取所述第一数据的校验码，以便于根据所述第一数据的校验码检测从所述存储系统读取的所述第一数据与写入所述存储系统的所述第一数据是否一致。