[发明专利]一种基于CCD的光电直读光谱仪异常点筛选方法

说明书

技术领域

本发明涉及异常点筛选方法，具体的说是一种光电直读光谱仪异常点筛选方法。

背景技术

现有的基于CCD的光电直读光谱仪采用全谱技术，具有光谱信息含量丰富、灵活性高等特点，是光电直读光谱仪的最新一代产品。这种光谱仪一般采用上下位机的系统架构，下位机实现简单的CCD光谱数据读取、累加及将数据传送给上位机等功能，上位机接受CCD上采集到的所有光谱进行后续的算法处理，这种系统架构功能清晰，可以充分发挥下位机的实时功能和上位机的强大数据处理功能，但是由于下位机存储容量和数据处理能力的限制，无法实现对CCD光谱数据的异常筛选功能，而对于P、S等元素，由其性质决定了其激发谱线往往会出现异常数据，需要进行剔除，否则会影响这两个元素的测试数据稳定性。

发明内容

本发明要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供了一种基于CCD的光电直读光谱仪异常点筛选方法，解决了下位机存储容量和数据处理能力不足无法实现CCD光谱数据异常筛选的问题，可有效提高基于CCD的光电直读光谱仪对P、S等元素的测试稳定性。

为了解决上述技术问题，本发明提供了如下的技术方案：

一种基于CCD的光电直读光谱仪异常点筛选方法，包括如下工作步骤：

步骤一：上位机设置激发参数信息；

步骤二：下位机采集CCD数据，并对数据进行累加和计算平均值；

步骤三：下位机将计算出的累加值与平均值传输至上位机；

步骤四：上位机再次设置激发参数信息；

步骤五：上位机设置P、S的位置信息；

步骤六：下位机采集并存储CCD数据；

步骤七：下位机将P、S的光谱数据传输至上位机；

步骤八：上位机通过对步骤六传输的数据进行处理计算，得出元素含量；

所述步骤一、步骤二与步骤三为正常分析阶段；所述步骤四、步骤五、步骤六、步骤七与步骤八为P、S分析阶段。

进一步地，所述步骤六中下位机采集并只存储P、S的光谱数据。

进一步地，所述步骤八中上位机对所有光谱数据进行统计分析后进行异常筛选，然后进行计算，最终得出P、S的含量数值。

本发明一种基于CCD的光电直读光谱仪异常点筛选方法，解决了下位机存储容量和数据处理能力不足无法实现CCD光谱数据异常筛选的问题，可有效提高基于CCD的光电直读光谱仪对P、S等元素的测试稳定性，对P、S的光谱数据进行异常筛选，有效提高了CCD直读光谱测量P、S的数据稳定性，对于含量从0.1％～0.6％的P、S数据稳定性从原来的RSD为5％提升到1％。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1是本发明一种基于CCD的光电直读光谱仪异常点筛选方法的流程示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。

如图1所示本发明要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供了一种基于CCD的光电直读光谱仪异常点筛选方法，解决了下位机存储容量和数据处理能力不足无法实现CCD光谱数据异常筛选的问题，可有效提高基于CCD的光电直读光谱仪对P、S等元素的测试稳定性。

为了解决上述技术问题，本发明提供了如下的技术方案：

一种基于CCD的光电直读光谱仪异常点筛选方法，包括如下工作步骤：

步骤一11：上位机设置激发参数信息；

步骤二12：下位机采集CCD数据，并对数据进行累加和计算平均值；

步骤三13：下位机将计算出的累加值与平均值传输至上位机；

步骤四21：上位机再次设置激发参数信息；

步骤五22：上位机设置P、S的位置信息；

步骤六23：下位机采集并存储CCD数据；

步骤七24：下位机将P、S的光谱数据传输至上位机；

步骤八25：上位机通过对步骤六传输的数据进行处理计算，得出元素含量；

所述步骤一11、步骤二12与步骤三13为正常分析阶段1；所述步骤四21、步骤五22、步骤六23、步骤七24与步骤八25为P、S分析阶段2；所述步骤六23中下位机采集并只存储P、S的光谱数据；所述步骤八25中上位机对所有光谱数据进行统计分析后进行异常筛选，然后进行计算，最终得出P、S的含量数值。