[发明专利]一种基于CCD的光电直读光谱仪异常点筛选方法在审
| 申请号： | 201310182693.6 | 申请日： | 2013-05-17 |
| 公开（公告）号： | CN103308490A | 公开（公告）日： | 2013-09-18 |
| 发明（设计）人： | 顾德安 | 申请（专利权）人： | 无锡创想分析仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 江苏省无锡市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 ccd 光电 直读 光谱仪 异常 筛选 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于CCD的光电直读光谱仪异常点筛选方法，其特征在于：包括如下工作步骤：
步骤一：上位机设置激发参数信息；
步骤二：下位机采集CCD数据，并对数据进行累加和计算平均值；
步骤三：下位机将计算出的累加值与平均值传输至上位机；
步骤四：上位机再次设置激发参数信息；
步骤五：上位机设置P、S的位置信息；
步骤六：下位机采集并存储CCD数据；
步骤七：下位机将P、S的光谱数据传输至上位机；
步骤八：上位机通过对步骤六传输的数据进行处理计算，得出元素含量；
所述步骤一、步骤二与步骤三为正常分析阶段；
所述步骤四、步骤五、步骤六、步骤七与步骤八为P、S分析阶段。
2.根据权利要求1所述的一种基于CCD的光电直读光谱仪异常点筛选方法，其特征在于：所述步骤六中下位机采集并只存储P、S的光谱数据。
3.根据权利要求1所述的一种基于CCD的光电直读光谱仪异常点筛选方法，其特征在于：所述步骤八中上位机对所有光谱数据进行统计分析后进行异常筛选，然后进行计算，最终得出P、S的含量数值。
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