[发明专利]具电磁干扰屏蔽的半导体封装体及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201310180814.3 申请日: 2013-05-16
公开(公告)号: CN103296011A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 邱基综;欧英德 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L23/552 分类号: H01L23/552
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 电磁 干扰 屏蔽 半导体 封装 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种半导体封装体,其特征在于,包括:

半导体芯片;

微结构件,配置在该半导体芯片的一上表面上;

导电件,配置在该半导体芯片的该上表面上,该导电件围绕该微结构件而划分出该微结构件的范围,且该导电件形成一凹穴,该微结构件在该凹穴中;以及

屏蔽物,配置在该导电件、该凹穴以及该微结构件上以提供该微结构件电磁干扰屏蔽。

2.如权利要求1所述的半导体封装体,其中该导电件延伸至该芯片的一周围。

3.如权利要求1所述的半导体封装体,其中该导电件设置在该芯片的一周围。

4.如权利要求1所述的半导体封装体,其中该屏蔽物包括基层以及金属屏蔽层,该金属屏蔽层覆盖在该基层。

5.如权利要求1所述的半导体封装体,其中该屏蔽物在覆盖该微结构件的区域包括第一厚度,而在未覆盖该微结构件的区域包括第二厚度,且该第一厚度小于该第二厚度。

6.如权利要求5所述的半导体封装体,其中该微结构件包括第一微结构件及第二微结构件,该屏蔽物包括该第一厚度,该第一厚度位在覆盖该第一微结构件及该第二微结构件的区域,且该第二厚度位在未覆盖该第一微结构件及该第二微结构件的区域。

7.如权利要求1所述的半导体封装体,其中该半导体芯片包括至少一穿孔,且该屏蔽物电连接于该导电件及该至少一穿孔。

8.一种半导体封装体,其特征在于,包括:

半导体芯片;

微结构件,配置在该半导体芯片的一上表面上;

导电件,配置在该半导体芯片的该上表面上,该导电件围绕该微结构件而划分出该微结构件的范围;以及

屏蔽物,配置在该微结构件上以提供该微结构件电磁干扰屏蔽,其中该屏蔽物在覆盖该微结构件的区域包括第一厚度,而在未覆盖该微结构件的区域包括第二厚度,且该第一厚度小于该第二厚度。

9.如权利要求8所述的半导体封装体,其中该屏蔽物包括开口,该开口暴露一空间于外在环境,该空间在该屏蔽物之下而环绕该微结构件。

10.一种形成半导体封装体的方法,其特征在于,包括:

提供一半导体晶片,该半导体晶片具有多个子单元;

设置至少一微结构件在各该子单元;

电连接该微结构件与该半导体晶片;

形成多个导电件在该半导体晶片上,各该导体件环绕至少一该微结构件且形成多个凹穴,该些微结构件在该凹穴中;以及

配置一屏蔽物在该些导体件上以将该些微结构件封闭在该些凹穴。

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