[发明专利]触控面板的触点座标的取样方法以及触控装置

说明书

技术领域

本发明是有关于一种触控面板的触点座标的取样方法以及一种触控装置。

背景技术

近年来，许多电子产品应用触控面板作为输入接口。常见的触控面板包含电阻式触控面板、电容式触控面板、电磁感应式触控面板、光学感应式触控面板及音波式触控面板等等。在可携式电子产品的触控面板中，触控面板的消耗功率一直是重要的考量因素。有许多研究针对触控面板的结构进行改良，但是鲜少有研究者对于触控面板侦测触点的频率与使用者的习惯之间的关连性进行研究。

发明内容

本发明的一目的是揭露一种触控面板的触点座标的取样方法以及触控装置，以能有效地降低触控面板的消耗功率。

根据本发明一实施方式，上述触控面板的触点座标的取样方法，包含以下步骤：(a1)以一低侦测频率侦测一触控面板上的触点，以得到时序上相邻的两个触点座标；(a2)计算低侦测频率下的两个触点座标间的距离；(a3)判断低侦测频率下的两个触点座标间的距离是否大于一第一临界距离；(a4)当步骤(a3)的判断结果为真，以一高侦测频率侦测触控面板上的触点，以获得时序上的下一个触点座标；(a5)计算高侦测频率下的时序上相邻的两个触点座标间的距离；(a6)判断步骤(a5)的两个触点座标间的距离是否小于一第二临界距离，其中第二临界距离小于第一临界距离；以及(a7)当步骤(a6)的判断结果为真，以低侦测频率侦测触控面板上的触点。

在一实施方式中，触控面板具有一最小解析单位长度，且第一临界距离为最小解析单位长度的5-10倍。

在一实施方式中，触控面板具有一最小解析单位长度，且第二临界距离为最小解析单位长度的2-6倍。

在一实施方式中，低侦测频率为约50次/秒至约150次/秒，且高侦测频率为约150次/秒至约300次/秒。

根据本发明另一实施方式，是提供一种触控面板的触点座标的取样方法，此包含以下步骤：(b1)以一低侦测频率侦测一触控面板上的触点，以获得时序上相邻的两个触点座标；(b2)计算低侦测频率下的两个触点座标间的距离及斜率；(b3)判断低侦测频率下的两个触点座标间的距离是否大于一第一临界距离；(b4)当步骤(b3)的判断结果为真，判断低侦测频率下的斜率是否大于一第一临界斜率；(b5)当步骤(b4)的判断结果为真，以一高侦测频率侦测触控面板上的触点，以获得得时序上的下一个触点座标；(b6)计算高侦测频率下的两个触点座标间的距离及斜率；以及(b7)判断高侦测频率下的两个触点座标间的距离是否小于一第二临界距离，其中第二临界距离小于第一临界距离；(b8)当步骤(b7)的判断结果为真，以低侦测频率侦测触控面板上的触点；(b9)当步骤(b7)的判断结果为否，判断高侦测频率下的斜率是否小于一第二临界斜率，其中第二临界斜率小于第一临界斜率；以及(b10)当步骤(b9)的判断结果为真，以低侦测频率侦测触控面板上的触点。

在一实施方式中，第一临界斜率为约0.2至约0.4。

在一实施方式中，第二临界斜率为约0.1至约0.3。

根据本发明又一实施方式，是提供一种触控面板的触点座标的取样方法，此包含以下步骤：(c1)以一低侦测频率侦测一触控面板上的触点，以获得时序上依序相邻的第一、第二及第三触点座标；(c2)计算低侦测频率下的第一触点座标至第二触点座标的向量、第二触点座标至第三触点座标的向量、以及两向量间的夹角；(c3)判断步骤(c2)的两向量间的夹角是否大于一第一临界角；(c4)当步骤(c3)的判断结果为真，以一高侦测频率侦测触控面板上的触点，以获得时序上依序相邻的第四、第五及第六触点座标；(c5)计算高侦测频率下的第四触点座标至第五触点座标的向量、第五触点座标至第六触点座标的向量、以及两向量间的夹角；(c6)判断步骤(c5)的两向量的夹角是否小于一第二临界角，其中第二临界角小于第一临界角；以及(c7)当步骤(c6)的判断结果为真，以低侦测频率侦测触控面板上的触点。

在一实施方式中，第一临界角为15度至30度，且第二临界角为5度至15度。

本发明的另一方面是揭露一种触控装置，此触控装包含一触控面板、一座标计算单元、一轨迹侦测单元以及一取样控制单元。触控面板用以在一侦测频率下侦测出现在触控面板上的一触点，而得到时序上一系列的触点信息。座标计算单元用以根据系列的触点信息计算一系列的触点座标。轨迹侦测单元用以计算一系列的触点座标中，时序上任意两相邻触点座标间的距离。取样控制单元用以根据轨迹侦测单元所计算的距离，控制触控面板的侦测触点频率。

附图说明