[发明专利]触控面板的触点座标的取样方法以及触控装置

权利要求书

1.一种触控面板的触点座标的取样方法，其特征在于，包含：

(a1)以一低侦测频率侦测一触控面板上的触点，以得到时序上相邻的两个触点座标；

(a2)计算该低侦测频率下的该两个触点座标间的距离；

(a3)判断该低侦测频率下的该两个触点座标间的距离是否大于一第一临界距离；

(a4)当步骤(a3)的判断结果为真，以一高侦测频率侦测该触控面板上的触点，以获得时序上的下一个触点座标；

(a5)计算该高侦测频率下的时序上相邻的两个触点座标间的距离；

(a6)判断步骤(a5)的该两个触点座标间的距离是否小于一第二临界距离，其中该第二临界距离小于该第一临界距离；以及

(a7)当步骤(a6)的判断结果为真，以该低侦测频率侦测该触控面板上的触点。

2.根据权利要求1所述的触控面板的触点座标的取样方法，其特征在于，该触控面板具有一最小解析单位长度，且该第一临界距离为该最小解析单位长度的5-10倍。

3.根据权利要求1所述的触控面板的触点座标的取样方法，其特征在于，该触控面板具有一最小解析单位长度，且该第二临界距离为该最小解析单位长度的2-6倍。

4.根据权利要求1所述的触控面板的触点座标的取样方法，其特征在于，该低侦测频率为50次/秒至150次/秒，且该高侦测频率为150次/秒至300次/秒。

5.一种触控面板的触点座标的取样方法，其特征在于，包含：

(b1)以一低侦测频率侦测一触控面板上的触点，以获得时序上相邻的两个触点座标；

(b2)计算该低侦测频率下的该两个触点座标间的距离及斜率；

(b3)判断该低侦测频率下的该两个触点座标间的距离是否大于一第一临界距离；

(b4)当步骤(b3)的判断结果为真，判断该低侦测频率下的该斜率是否大于一第一临界斜率；

(b5)当步骤(b4)的判断结果为真，以一高侦测频率侦测该触控面板上的触点，以获得得时序上的下一个触点座标；

(b6)计算该高侦测频率下的该两个触点座标间的距离及斜率；以及

(b7)判断该高侦测频率下的该两个触点座标间的距离是否小于一第二临界距离，其中该第二临界距离小于该第一临界距离；

(b8)当步骤(b7)的判断结果为真，以该低侦测频率侦测该触控面板上的触点；

(b9)当步骤(b7)的判断结果为否，判断该高侦测频率下的该斜率是否小于一第二临界斜率，其中该第二临界斜率小于该第一临界斜率；以及

(b10)当步骤(b9)的判断结果为真，以该低侦测频率侦测该触控面板上的触点。

6.根据权利要求5所述的触控面板的触点座标的取样方法，其特征在于，该第一临界斜率为0.2至0.4。

7.根据权利要求5所述的触控面板的触点座标的取样方法，其特征在于，该第二临界斜率为0.1至0.3。

8.一种触控面板的触点座标的取样方法，其特征在于，包含：

(c1)以一低侦测频率侦测一触控面板上的触点，以获得时序上依序相邻的第一、第二及第三触点座标；

(c2)计算该低侦测频率下的该第一触点座标至该第二触点座标的向量、该第二触点座标至该第三触点座标的向量、以及该两向量间的夹角；

(c3)判断步骤(c2)的该两向量间的夹角是否大于一第一临界角；

(c4)当步骤(c3)的判断结果为真，以一高侦测频率侦测该触控面板上的触点，以获得时序上依序相邻的第四、第五及第六触点座标；

(c5)计算该高侦测频率下的该第四触点座标至该第五触点座标的向量、该第五触点座标至第六触点座标的向量、以及该两向量间的夹角；

(c6)判断步骤(c5)的该两向量的夹角是否小于一第二临界角，其中该第二临界角小于该第一临界角；以及

(c7)当步骤(c6)的判断结果为真，以该低侦测频率侦测该触控面板上的触点。

9.根据权利要求8所述的触控面板的触点座标的取样方法，其特征在于，该第一临界角为15度至30度，且该第二临界角为5度至15度。

10.一种触控装置，其特征在于，包含：

一触控面板，用以在一侦测频率下侦测出现在该触控面板上的一触点，而得到时序上一系列的触点信息；

一座标计算单元，用以根据该系列的触点信息计算一系列的触点座标；

一轨迹侦测单元，用以计算该系列的触点座标中，时序上任意两相邻触点座标间的距离；以及

一取样控制单元，用以根据该轨迹侦测单元所计算的该距离，控制该触控面板的该侦测频率。