[发明专利]用于检查过孔的方法和设备

说明书

本申请要求于2012年5月11日提交到韩国知识产权局的第10-2012-0050462号韩国专利申请的权益，所述韩国专利申请的公开内容通过引用被包含于此。

技术领域

本发明涉及一种印刷电路，更具体地说，涉及一种用于检查形成在电路被印刷的器件中的过孔是否有缺陷的方法和设备。

背景技术

多个有源器件被安装在印刷电路板上，在该印刷电路板上形成用于电连接所述多个有源器件的预定电路图案。电路图案形成在印刷电路板的仅仅一个表面上，但是目前，随着印刷电路板的功能变得复杂，电路图案形成在印刷电路板的两个表面上。为了电连接形成在印刷电路板的两个表面上的电路图案，过孔（via hole，导通孔）被形成为垂直穿过印刷电路板。

因此，由于过孔电连接位于印刷电路板的上表面和下表面上的电路图案，所以过孔将要根据相关的规定被形成。然而，当形成过孔时，可能形成不正常的过孔，这可能导致印刷电路板的故障。因此，必须检查过孔是否处于正常的状态或者不处于正常的状态。

引用的文献（JP1993-232039）公开了一种用于通过对包括通孔的图像信号进行二进制编码以及对二进制编码的图像信号进行分析来检查通孔的设备。

发明内容

本发明提供了一种用于通过捕获过孔的图像并对图像进行分析来准确地检查过孔的状态的设备和方法。

根据本发明的一方面，提供了一种检查材料中形成的过孔的方法，所述方法包括：（a）捕获过孔的区域的图像；（b）从所述图像提取边缘；（c）通过对边缘执行霍夫变换来检测最大值；（d）计算以所述最大值的位置作为中心的圆的表面面积；（e）通过将最大值、位置和圆的表面面积与基准值进行比较来检查过孔的状态。

根据本发明的另一方面，提供了一种用于检查形成在材料中的过孔的过孔检查设备，包括：存储器，存储将要被形成在材料中的基准过孔的基准值；支撑件，所述材料被安装在支撑件上；相机，捕获安装在支撑件上的材料的过孔的图像；图像输入单元，接收来自相机的图像；边缘提取单元，从从图像输入单元接收的图像提取边缘；霍夫变换单元，对从边缘提取单元发送的边缘执行霍夫变换，以检测所述边缘的位置和最大值；过孔确定单元，从霍夫变换单元接收边缘的位置和最大值，从存储器接收基准值，计算以最大值的位置作为中心的圆的表面面积，将最大值、最大值处的位置和圆的表面面积与基准值进行比较，以确定过孔的状态。

附图说明

通过参照附图对本发明的示例性实施例进行的详细描述，本发明的上述和其他特点和优点将会变得更加明显，附图中：

图1是根据本发明的实施例的过孔检查设备的示意图；

图2是示出在图1中示出的控制器的框图；

图3是形成过孔的电路板的剖视图；

图4是示出根据本发明的实施例的检查过孔的方法的流程图；

图5是示出根据本发明的实施例的在图4中示出的检查过孔的状态的方法的具体流程图；

图6是示出根据本发明的实施例的在图4中示出的设置基准值的方法的详细流程图；

图7(a)示出了过孔的区域的图像，图7(b)示出了由数字表示的图7(a)的图像的一部分的亮度；

图8(a)和图8(b)是用于解释将图像区域转换成Hough区域（霍夫区域）的方法的视图；

图9示出了正常过孔的二进制编码图像；

图10示出了没有形成过孔的区域的图像；

图11示出了过孔被形成得比根据规定的大的区域的二进制编码图像；

图12示出了过孔被形成得比根据规定的小的区域的二进制编码图像；

图13示出了过孔被形成得越出根据规定的位置之外的区域的图像。

具体实施方式

现在将参照附图来更充分地描述本发明，附图中示出了本发明的示例性实施例。在附图中，相同的标号表示相同的元件。当诸如“……中的至少一个”的表述位于元件的列表之后时，所述表述修饰元件的整个列表而不修饰元件的单独的列表。

图1是根据本发明的实施例的过孔检查设备101的示意图。参照图1，过孔检查设备101包括支撑件111、相机121、存储器131、控制器141、显示器151和主体105。

其上形成例如半导体芯片或者电路的电路板安装在支撑件111上。至少一个过孔165（参见图3）形成在材料161中，所述至少一个过孔165垂直穿过材料161而形成。